WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007017838) ESSAI D'UN CIRCUIT INTEGRE CONTENANT DES INFORMATIONS CONFIDENTIELLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/017838    N° de la demande internationale :    PCT/IB2006/052746
Date de publication : 15.02.2007 Date de dépôt international : 09.08.2006
CIB :
G01R 31/317 (2006.01), G01R 31/3185 (2006.01)
Déposants : NXP B.V. [NL/NL]; High Tech Campus 60, NL-5656 AG Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
MARINISSEN, Erik, J. [NL/NL]; (GB) (US Seulement).
GOEL, Sandeepkumar [IN/NL]; (GB) (US Seulement).
NIEUWLAND, Andre, K. [NL/NL]; (GB) (US Seulement).
VERMEULEN, Hubertus, G., H. [NL/NL]; (GB) (US Seulement).
VRANKEN, Hendrikus, P., E. [NL/NL]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : MARINISSEN, Erik, J.; (GB).
GOEL, Sandeepkumar; (GB).
NIEUWLAND, Andre, K.; (GB).
VERMEULEN, Hubertus, G., H.; (GB).
VRANKEN, Hendrikus, P., E.; (GB)
Mandataire : WHITE, Andrew; NXP Semiconductors, Intellectual Property Department, Cross Oak Lane, Redhill, Surrey RH1 5HA (GB)
Données relatives à la priorité :
05107361.7 10.08.2005 EP
Titre (EN) TESTING OF AN INTEGRATED CIRCUIT THAT CONTAINS SECRET INFORMATION
(FR) ESSAI D'UN CIRCUIT INTEGRE CONTENANT DES INFORMATIONS CONFIDENTIELLES
Abrégé : front page image
(EN)An integrated circuit (10) comprises a functional circuit (12a-c) that contain information that must be secured against unauthorized access. The integrated circuit comprises a test access circuit (14, 16) coupled to the functional circuit (12a-c), and a plurality of fuse elements (18) coupled to the test access circuit (14, 16). The fuse elements (18) are connected in a circuit configuration that makes the functional circuit (12a-c) consistently accessible via the test access circuit (14, 16) only when first fuse elements (18) of the plurality are in a blown state and second fuse elements (18) of the plurality are in a not-blown state. As a result the integrated circuit can be tested after selectively blowing all of the first fuse elements (18). After testing at least part of the second fuse elements (18) is blown. As a result, a person that does not know which fuse elements are first fuse elements and which are second fuse elements is presented with difficulties to restore the integrated circuit to a state where test access with the danger of access to the secured information is possible.
(FR)L'invention concerne un circuit intégré (10) comprenant un circuit fonctionnel (12a-c) contenant des informations devant être protégées contre tout accès non autorisé. Le circuit intégré comprend un circuit (14, 16) d'accès d'essai couplé au circuit fonctionnel (12a-c), et une pluralité d'éléments (18) de fusible couplés au circuit (14, 16) d'accès d'essai. Les éléments (18) de fusible sont connectés dans une configuration de circuit rendant le circuit fonctionnel (12a-c) consistently accessible via le circuit (14, 16) d'accès d'essai seulement lorsque des premiers éléments (18) de fusible de la pluralité d'éléments sont grillés et des seconds éléments (18) de fusible ne sont pas grillés. Le circuit intégré peut ainsi être testé après que tous les premiers éléments (18) de fusible ont été grillés de manière sélective. Suite à l'essai, au moins une partie des seconds éléments (18) de fusible sont grillés. Une personne ne sachant pas quels éléments de fusible sont les premiers éléments de fusible et quels sont les seconds éléments de fusible connaît ainsi des difficultés pour restaurer le circuit intégré dans un état dans lequel l'accès d'essai avec le risque d'accès aux informations protégées est possible.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)