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1. (WO2007017634) DISPOSITIF ET PROCEDE D'IMAGERIE PAR IMPEDANCE ELECTRIQUE SANS CONTACT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/017634    N° de la demande internationale :    PCT/GB2006/002887
Date de publication : 15.02.2007 Date de dépôt international : 03.08.2006
CIB :
A61B 5/053 (2006.01)
Déposants : DE MONTFORT UNIVERSITY [GB/GB]; The Gateway, Leicester LE1 9BH (GB) (Tous Sauf US).
WANG, Wei [CN/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : WANG, Wei; (GB)
Mandataire : HIGGIN, Paul; Swindell & Pearson, 48 Friar Gate, Derby DE1 1GY (GB)
Données relatives à la priorité :
0516158.3 05.08.2005 GB
Titre (EN) AN APPARATUS AND METHOD FOR NON-CONTACT ELECTRICAL IMPEDANCE IMAGING
(FR) DISPOSITIF ET PROCEDE D'IMAGERIE PAR IMPEDANCE ELECTRIQUE SANS CONTACT
Abrégé : front page image
(EN)A method of electrical impedance imaging using multiple electrodes in which each of the multiple electrodes does not contact the object to be imaged but is electrically coupled to the object via electrically conductive fluid in which the object is at least partially immersed.
(FR)L'invention concerne un procédé d'imagerie par impédance électrique au moyen de multiples électrodes. Selon ce procédé, ces électrodes ne sont pas mises en contact avec l'objet à imager, mais sont électriquement couplées à cet objet par l'intermédiaire d'un fluide électroconducteur dans lequel l'objet est au moins partiellement immergé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)