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1. (WO2007015580) SYNCHRONISATION DES CARTES CIRCUITS DANS UN CHASSIS NORMALISE D'INSTRUMENTATION DE TESTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/015580    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/315783
Date de publication : 08.02.2007 Date de dépôt international : 03.08.2006
CIB :
G01R 31/319 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo, 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
LE, Anthony [US/US]; (US) (US Seulement).
GOMES, Glen [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : LE, Anthony; (US).
GOMES, Glen; (US)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower, 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome, Shinjuku-ku, Tokyo, 1631105 (JP)
Données relatives à la priorité :
11/196,996 03.08.2005 US
Titre (EN) CIRCUIT CARD SYNCHRONIZATION WITHIN A STANDARDIZED TEST INSTRUMENTATION CHASSIS
(FR) SYNCHRONISATION DES CARTES CIRCUITS DANS UN CHASSIS NORMALISE D'INSTRUMENTATION DE TESTS
Abrégé : front page image
(EN)Precise timing control within a standardized chassis such as PXI is obtained by providing several control signals over PXI_LOCAL. A Least Common Multiple (LCM) signal enables all clocks to have coincident clock edges occurring at every LCM edge. A start sequence allows all PXI expansion cards in the test system to start at the same time. A MATCH line enables pincard modules to check for expected DUT outputs and either continue execution of their local test programs or loop back and repeat a section of the local test program in accordance with the result of the DUT output check. An End Of Test (EOT) line enables any one pincard module to abruptly end the local test programs running in all other pincard modules if an error is detected by the local test program in the pincard module.
(FR)La présente invention concerne la réalisation d'une gestion précise des synchronisations dans un châssis normalisé tel qu'un PXI par production de plusieurs signaux de commande via le PXI LOCAL. Un signal LCM (Least Common Multiple) permet de faire coïncider les bords des synchros de chaque bord de LCM. Une séquence de lancement fait que toutes les cartes d'extension PXI du système de test prennent le même top de départ. Une ligne MATCH permet aux modules du répartiteur d'attendre les sorties des dispositifs en test puis, soit de continuer l'exécution de leurs programmes de tests locaux, soit de reboucler et de répéter une partie du programme de test local en fonction du résultat de la vérification de la sortie du dispositif en test. Une ligne EOT (fin de test) permet à un module du répartiteur de mettre fin inopinément aux programmes de tests locaux s'exécutant dans d'autres modules en cas de détection d'erreur par le programme de test local du module.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)