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1. (WO2007015235) CIRCUIT D’ÉQUILIBRAGE DE MATRICE À PLAN FOCAL DE DÉTECTEURS INFRAROUGES DIFFÉRENTIELS À BOLOMÈTRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2007/015235 N° de la demande internationale : PCT/IL2006/000884
Date de publication : 08.02.2007 Date de dépôt international : 31.07.2006
CIB :
G01J 5/24 (2006.01) ,H04N 5/33 (2006.01) ,H04N 5/361 (2011.01)
Déposants : ADIN, Amnon[IL/IL]; IL (UsOnly)
SEMI-CONDUCTOR DEVICES-AN ELBIT SYSTEMS-RAFAEL PARTNERSHIP[IL/IL]; P.O.B. 2250 31021 Haifa, IL (AllExceptUS)
Inventeurs : ADIN, Amnon; IL
Mandataire : LUZZATTO, Kfir ; P.o. Box 5352 84152 Beer Sheva, IL
Données relatives à la priorité :
17012704.08.2005IL
Titre (EN) CIRCUITRY FOR BALANCING A DIFFERENTIAL TYPE FOCAL PLANE ARRAY OF BOLOMETER BASED INFRA-RED DETECTORS
(FR) CIRCUIT D’ÉQUILIBRAGE DE MATRICE À PLAN FOCAL DE DÉTECTEURS INFRAROUGES DIFFÉRENTIELS À BOLOMÈTRE
Abrégé : front page image
(EN) The present invention relates to a bolometer type focal plane array system with circuitry for adjusting its differential measuring pixel detectors during reading, which comprises: (a) an array of i x j pixel detectors of the bolometer type for sensing scenery radiation, wherein each of said detectors provides a differential measurement of the scenery radiation, and comprises at least one resistor which is sensitive to IR radiation coming from the scenery, and at least one detector reference resistor which is masked from the scenery; (b) j column current sources (100) that comprises at least one source reference resistor (Rb) having a same TCR as of said at least one detector reference resistor, and which is thermally shorted to said substrate, wherein said current source provides to a selected detector a corresponding compensation current (Jc) which is inversely proportional to said at least one source reference resistor; (c) row selector for sequentially selecting a row n within said FPA, while connecting respectively each column current source to a corresponding pixel detector within the selected row thereby to provide a compensation current by each of said current sources to the corresponding detector; and (d) reading circuitry for reading indication for the scenery radiation as sensed by each of the i x j detectors of the array.
(FR) La présente invention concerne un système de matrice à plan focal de type bolomètre doté d’une circuit pour un réglage de ses détecteurs de pixels de mesure différentielle, qui comprend : (a) une matrice de i x j détecteurs de pixels de type bolomètre pour déceler la radiation ambiante, chacun desdits détecteurs fournissant une mesure différentielle de la radiation ambiante et comprenant au moins une résistance sensible aux rayons infrarouges provenant de l’environnement et au moins une résistance de référence de détecteur qui n’est pas exposée à l’environnement ; (b) j sources de courant de colonne (100) comprenant au moins une résistance de référence de source (Rb) dont le CTR est identique à celui de la résistance de référence de détecteur, et qui fait l’objet d’une mise en court circuit thermique au substrat, ladite source de courant alimentant un détecteur sélectionné en un courant de compensation correspondant (Jc) qui est inversement proportionnel à la résistance de référence de source ; (c) un sélecteur de ligne qui sélectionne séquentiellement une ligne n de ladite matrice, tout en reliant respectivement chaque source de courant de colonne à un détecteur de pixels correspondant dans la ligne sélectionnée pour que ladite source fournisse ainsi un courant de compensation à ce détecteur ; et (d) un circuit de lecture destiné à lire l’indication de la radiation ambiante telle que décelée par chacun des i x j détecteurs de la matrice.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)