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1. (WO2007013256) DISPOSITIF D'OBTENTION D'UN ECHANTILLON DE METAL ET PROCEDE D'OBTENTION D'UN ECHANTILLON DE METAL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2007/013256 N° de la demande internationale : PCT/JP2006/313051
Date de publication : 01.02.2007 Date de dépôt international : 30.06.2006
CIB :
G01N 1/10 (2006.01) ,G01N 23/223 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
02
Dispositifs pour prélever des échantillons
10
à l'état liquide ou fluide
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
22
en mesurant l'émission secondaire
223
en irradiant l'échantillon avec des rayons X et en mesurant la fluorescence X
Déposants : KAWASHIMA, Yasuji; null (UsOnly)
MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD.[JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 5718501, JP (AllExceptUS)
Inventeurs : KAWASHIMA, Yasuji; null
Mandataire : KAWAMIYA, Osamu; AOYAMA & PARTNERS, IMP Building 3-7, Shiromi 1-chome, Chuo-ku Osaka-shi, Osaka 5400001, JP
Données relatives à la priorité :
2005-21671627.07.2005JP
Titre (EN) DEVICE FOR PRODUCING METAL SAMPLE AND PROCESS FOR PRODUCING METAL SAMPLE
(FR) DISPOSITIF D'OBTENTION D'UN ECHANTILLON DE METAL ET PROCEDE D'OBTENTION D'UN ECHANTILLON DE METAL
(JA) 金属試料作製装置と金属試料作製方法
Abrégé :
(EN) A process and device for easily and rapidly producing a metal sample for analysis to be used for determining the content of impurities in a molten metal with high accuracy. The device for metal sample production comprises: a thin-walled mold having a thin sample collection space for collecting a molten metal; and an opening/closing operation part with which the mold can be freely opened/closed. This device is used to collect a molten metal and rapidly cool the molten metal to thereby solidify it without causing segregation of the impurities contained in the molten metal. Thus, a metal sample for high-accuracy analysis is produced.
(FR) L'invention concerne un procédé et un dispositif permettant d'obtenir rapidement et de manière simple un échantillon de métal pour analyse utilisé pour déterminer avec une grande précision la teneur en impuretés d'un métal fondu. Le dispositif d'obtention d'un échantillon de métal comprend : un moule à parois minces comportant un espace étroit destiné à la collecte d'un échantillon de métal fondu ; et un moyen d'ouverture/de fermeture permettant d'ouvrir/de fermer librement le moule. Ce dispositif est utilisé pour recueillir un métal fondu et le refroidir rapidement afin de le solidifier sans provoquer la ségrégation des impuretés qu'il contient. On obtient ainsi un échantillon métallique permettant une analyse de grande précision.
(JA)  本発明は、溶融金属に含有する不純物の含有量を高精度に分析するための分析用金属試料を簡易かつ迅速に作製する方法および装置を提供する。より詳しくは、本発明の金属試料作製方法によれば、溶融金属を採取するための薄い試料採取空間を備えた薄厚の金型と、その金型を自在に開閉操作することができる開閉操作部とを有する金属試料作製装置を用いて、採取した溶融金属を急速冷却することによって、溶融した金属に含まれる不純物を偏析させることなく凝固して、高精度分析用の金属試料を作製する。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)