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1. (WO2007012781) PROCEDE DE MESURE D'UNE ANOMALIE DE FORME SUR UN PANNEAU D'UNE STRUCTURE D'AERONEF ET SYSTEME DE MISE EN OEUVRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2007/012781 N° de la demande internationale : PCT/FR2006/050744
Date de publication : 01.02.2007 Date de dépôt international : 24.07.2006
CIB :
G01B 11/25 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
25
en projetant un motif, p.ex. des franges de moiré, sur l'objet
Déposants : FOURNIER, Nicolas[FR/FR]; FR (UsOnly)
AIRBUS FRANCE[FR/FR]; 316 Route de Bayonne F-31060 Toulouse, FR (AllExceptUS)
Inventeurs : FOURNIER, Nicolas; FR
Mandataire : SCHMIT CHRETIEN SCHIHIN SNC; 16 Rue de la Paix F-75002 Paris, FR
Données relatives à la priorité :
055231926.07.2005FR
Titre (EN) METHOD FOR MEASURING A SHAPE ANOMALY ON AN AIRCRAFT STRUCTURAL PANEL AND SYSTEM THEREFOR
(FR) PROCEDE DE MESURE D'UNE ANOMALIE DE FORME SUR UN PANNEAU D'UNE STRUCTURE D'AERONEF ET SYSTEME DE MISE EN OEUVRE
Abrégé :
(EN) The invention concerns a method for measuring a shape anomaly (6) on an aircraft structural panel (5), including the following operations: projecting at the site of the anomaly (6) on the panel (5) a target pattern consisting of an assembly of black and white spots, of different sizes, arranged randomly adjacent one another; producing at least two images of said projected pattern; processing said two images by stereocorrelation to obtain measurements of the anomaly. The invention also concerns a system for implementing said method, comprising: a projecting device (3) for projecting at the site of the anomaly (6) on the panel (5) a target pattern consisting of an assembly of black and white spots, of different sizes, arranged randomly adjacent one another; at least two imaging devices (2a, 2b) for producing each an image of the target pattern; and means for processing said target pattern images.
(FR) L'invention concerne un procédé de mesure d'une anomalie de forme (6) sur un panneau (5) d'une structure d'aéronef, comportant les opérations suivantes : projection d'un motif cible à l'emplacement de l'anomalie (6) sur le panneau (5) , d'un motif cible constitué d'un ensemble de taches noires et blanches, de différentes tailles, placées de façon aléatiore les unes à côté des autres ; réalisation d'au moins deux images de ce motif cible projeté ; traitement de ces deux images par stéréocorrelation pour obtenir des mesures de l'anomalie. L'invention concerne aussi un système pour mettre en oeuvre ce procédé, comportant : un dispositif de projection (3) apte à projeter un motif cible à l'emplacement de l'anomalie (6) , sur le panneau (5) , un motif cible constitué d'un ensemble de taches noires et blanches, de différentes tailles, placées de façon aléatiore les unes à côté des autres ; au moins deux dispositifs de prise d'images (2a, 2b) aptes à réaliser chacun une image du motif cible ; et un moyen de traitement de ces images du motif cible.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : français (FR)
Langue de dépôt : français (FR)