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1. (WO2007006373) METHODE DE CALCUL DE CARACTERISTIQUES STATISTIQUES D'UN ENSEMBLE DE VALEURS D'EXPRESSION GENIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/006373    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/005196
Date de publication : 18.01.2007 Date de dépôt international : 31.05.2006
CIB :
G06F 19/20 (2011.01)
Déposants : MEDIZINISCHE UNIVERSITÄT WIEN [AT/AT]; Spitalgasse 23, A-1090 Wien (AT) (Tous Sauf US).
THURNER, Stefan [AT/AT]; (AT) (US Seulement).
WICK, Nikolaus [AT/AT]; (AT) (US Seulement).
BIELY, Christoly [AT/AT]; (AT) (US Seulement).
STOKIC, Dejan [YU/AT]; (AT) (US Seulement)
Inventeurs : THURNER, Stefan; (AT).
WICK, Nikolaus; (AT).
BIELY, Christoly; (AT).
STOKIC, Dejan; (AT)
Mandataire : VOSSIUS & PARTNER; Siebertstrasse 4, 81675 Munich (DE)
Données relatives à la priorité :
05 01 5085.3 12.07.2005 EP
Titre (EN) METHOD FOR CALCULATION OF STATISTICAL CHARACTERISTICS FOR A SET OF GENE EXPRESSION VALUES
(FR) METHODE DE CALCUL DE CARACTERISTIQUES STATISTIQUES D'UN ENSEMBLE DE VALEURS D'EXPRESSION GENIQUE
Abrégé : front page image
(EN)The invention is concerned with the field of analysis of data resulting from gene profiling experiments, and provides a method for calculation of statistical characteristics e.g. standard deviation values for a set of value pairs (Xn‖Yn), comprising the steps of a) grouping pairs and b) calculating the characteristics e.g. standard deviation for each group.
(FR)L'invention concerne le domaine de l'analyse des données résultant de l'expérimentation dans le profilage génétique. L'invention concerne également une méthode de calcul de caractéristiques statistiques, telles que des valeurs d'écart standard d'un ensemble de paires de valeurs (Xn|Yn), cette méthode consistant à: a) grouper les paires et b) calculer les caractéristiques telles que l'écart standard de chaque groupe.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)