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1. (WO2007006261) PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE CAPTEURS D'UN PALIER DE MESURE DESTINE A UN SYSTEME DE PALIER
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/006261    N° de la demande internationale :    PCT/DE2006/001143
Date de publication : 18.01.2007 Date de dépôt international : 01.07.2006
CIB :
G01L 5/00 (2006.01), G01L 25/00 (2006.01), G01M 13/04 (2006.01)
Déposants : SCHAEFFLER KG [DE/DE]; Industriestr. 1-3, 91074 Herzogenaurach (DE) (Tous Sauf US).
HEIM, Jens [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
NIEBLING, Peter [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
RUOFF, Gottfried [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
DLUGAI, Darius [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
MOCK, Christian [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : HEIM, Jens; (DE).
NIEBLING, Peter; (DE).
RUOFF, Gottfried; (DE).
DLUGAI, Darius; (DE).
MOCK, Christian; (DE)
Données relatives à la priorité :
10 2005 032 223.9 09.07.2005 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUM KALIBRIEREN EINER SENSORIK EINES MESSLAGERS FÜR EINE LAGERINSTALLATION
(EN) METHOD FOR CALIBRATING A SENSOR SYSTEM OF A MEASURING BEARING FOR A STORAGE INSTALLATION
(FR) PROCEDE D'ETALONNAGE D'UN SYSTEME DE CAPTEURS D'UN PALIER DE MESURE DESTINE A UN SYSTEME DE PALIER
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Kalibrieren einer Sensorik wenigstens eines Messlagers für eine Lagerinstallation, mit dem individuelle Messwerte einer individuellen Lagerinstallation mit repräsentativen Referenzwerten einer Referenzinstallation abgeglichen werden.
(EN)The invention relates to a method for calibrating a sensor system of at least one measuring bearing for a storage installation, said method being used to adjust individual measured values of an individual storage installation using representative reference values of a reference installation.
(FR)L'invention concerne un procédé d'étalonnage d'un système de capteurs d'au moins un palier de mesure destiné à un système de palier, permettant d'ajuster des valeurs de mesure individuelles d'un système de palier individuel avec des valeurs de référence représentatives d'un système de référence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)