WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2007000953) SYSTÈME DE SUPPORT DE DÉVELOPPEMENT DE CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2007/000953    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/312654
Date de publication : 04.01.2007 Date de dépôt international : 23.06.2006
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : Genesis Technology Inc. [JP/JP]; 75 Wada-cho, Nishiwaki-shi, Hyogo 6770052 (JP) (Tous Sauf US).
SATOH, Masayuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SATOH, Masayuki; (JP)
Mandataire : ISONO, Michizo; c/o Isono International Patent Office, Sabo Kaikan Annex, 7-4, Hirakawa-cho 2-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 1020093 (JP)
Données relatives à la priorité :
PCT/JP2005/011798 28.06.2005 JP
Titre (EN) SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVELOPMENT SUPPORT SYSTEM
(FR) SYSTÈME DE SUPPORT DE DÉVELOPPEMENT DE CIRCUIT INTÉGRÉ À SEMI-CONDUCTEURS
(JA) 半導体集積回路開発支援システム
Abrégé : front page image
(EN)A semiconductor integrated circuit development support system includes: a control device owned by a trustee of the test of the semiconductor integrated circuit by a tester; and a terminal device owned by a client and connected to the control device via a network. When the control device has received a test program of the semiconductor integrated circuit from the terminal device, the control device analyzes an arbitrary part of the test program, extracts tester operation data, and compares the operation data to respective tester specifications stored in advance, thereby extracting a usable tester and transmitting it to the terminal device.
(FR)La présente invention concerne un système de support de développement de circuit intégré à semi-conducteurs qui comprend : un dispositif de commande appartenant à un fiduciaire du test du circuit intégré à semi-conducteurs réalisé par un testeur, ainsi qu'un dispositif terminal appartenant à un client et relié au dispositif de commande via un réseau. Lorsque le dispositif de commande reçoit un programme test d'un circuit intégré à semi-conducteurs du dispositif terminal, le dispositif de commande analyse une partie arbitraire du programme de test, extrait les données de l'opération du testeur et compare les données d'opération aux spécifications respectives de chaque testeur, conservées à l'avance, pour extraire ainsi un testeur utilisable et le transmettre au dispositif terminal.
(JA) 本発明に係る半導体集積回路開発支援システムは、テスタによる半導体集積回路のテストの受託者が保有する制御装置と、前記テストの依頼者が保有し制御装置とネットワークを介して接続された端末装置とを備え、制御装置は、端末装置から半導体集積回路のテストプログラムを受信した場合、そのテストプログラムの任意の一部を解析してテスタの動作用データを抽出し、その動作用データと予め記憶された各テスタの仕様とを比較することで、使用可能なテスタを抽出し、端末装置に送信する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RS, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)