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1. (WO2006127787) PROCEDE DE RETENUE D'UN COMPOSANT ELECTRONIQUE DANS UNE ORIENTATION CONTROLEE AU COURS D'UN TEST PARAMETRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/127787    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/020044
Date de publication : 30.11.2006 Date de dépôt international : 23.05.2006
CIB :
H01L 21/683 (2006.01), B07C 5/344 (2006.01)
Déposants : ELECTRO SCIENTIFIC INDUSTRIES, INC. [US/US]; 13900 NW Science Park Drive, Portland, Oregon 97229-5497 (US) (Tous Sauf US).
FISH, Jeffrey L. [US/US]; (US) (US Seulement).
BOE, Gerald F. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : FISH, Jeffrey L.; (US).
BOE, Gerald F.; (US)
Mandataire : ANGELLO, Paul S.; Stoel Rives LLP, 900 S.w. Fifth Avenue, Suite 2600, Portland, Oregon 97204 (US)
Données relatives à la priorité :
11/135,728 23.05.2005 US
Titre (EN) A METHOD OF SEATING AN ELECTRONIC COMPONENT AND AN ELECTRONIC COMPONENT HANDLER
(FR) PROCEDE DE RETENUE D'UN COMPOSANT ELECTRONIQUE DANS UNE ORIENTATION CONTROLEE AU COURS D'UN TEST PARAMETRIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A component handler includes an improved test seat (100) having a shape that ensures that an electronic component (10) seated in the test seat is in an appropriate orientation for parametric testing. The test seat has a base surface (102) and first and second opposed seat side surfaces (104, 106) separated by generally increasing distances from a narrower notch end (110) to a wider notch end (112). There is an opening (116) at the narrower notch end. An electronic component is seated within this test seat such that the first and second side surfaces (12, 14) of the electronic component rest against the first and second seat side surfaces. A side surface side margin on which is formed a wraparound electrode (34) is exposed by the opening at the narrower notch end and a second side surface side margin on which is formed a second wraparound electrode (30) is exposed by an opening at the wider notch end.
(FR)Le manipulateur de composants selon l'invention comprend un siège de test (100) amélioré présentant une forme assurant qu'un composant électronique (10) reçu dans le siège de test se trouve dans une orientation appropriée pour un test paramétrique. Le siège de test présente une surface de base (102) ainsi que des première et seconde surfaces latérales de siège opposées (104, 106) séparées par des distances augmentant généralement à partir d'une extrémité d'encoche plus étroite (110) vers une extrémité d'encoche plus large (112). Une ouverture (116) est formée au niveau de l'extrémité d'encoche plus étroite. Un composant électronique est reçu dans ledit siège de test de sorte que les première et seconde surfaces latérales (12, 14) du composant électronique reposent contre les première et seconde surface latérales de siège. Une marge latérale de surface latérale sur laquelle est formée une électrode enveloppante (34) est exposée par l'ouverture au niveau de l'extrémité d'encoche plus étroite et une seconde marge latérale de surface latérale sur laquelle est formée une seconde électrode enveloppante (30) est exposée par une ouverture au niveau de l'extrémité d'encoche plus large.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)