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1. (WO2006127199) ÉMETTEUR-RÉCEPTEUR DE DIAGNOSTIC DE FRONT D’ONDE DE MEMS OPTIQUE ET ÉMETTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/127199    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/015825
Date de publication : 30.11.2006 Date de dépôt international : 26.04.2006
CIB :
G01B 9/02 (2006.01), G01J 9/02 (2006.01)
Déposants : THE BOEING COMPANY [US/US]; 100 N. Riverside Plaza, Chicago, Illinois 60606 (US) (Tous Sauf US).
BROOKS, Lawrence, D. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BROOKS, Lawrence, D.; (US)
Mandataire : TSUDA, Diane, M.; The Boeing Company, MC 110-SD54, P.O. Box 2515, Seal Beach, CA 90740-1515 (US)
Données relatives à la priorité :
11/133,592 20.05.2005 US
Titre (EN) OPTICAL MEMS WAVEFRONT DIAGNOSTIC TRANSCEIVERS AND RECEIVER
(FR) ÉMETTEUR-RÉCEPTEUR DE DIAGNOSTIC DE FRONT D’ONDE DE MEMS OPTIQUE ET ÉMETTEUR
Abrégé : front page image
(EN)A combination interferometer (ifo) inspection device is provided which includes a Twyman-Green (T-G) ifo (80) optically coupled to a Mach-Zehnder (M-Z) ifo (82). MEMS and MOEMS versions permit substantial reduction in size and weight to permit permanently embedding an inspection device into an optical system which permits remote and automated inspection and/or adjustment of the optical system. The inspection device permits use of different coherence length light sources and receipt of an output signal from an optical system (70). The addition of the T-G ifo to the M-Z ifo aids pinhole alignment and general alignment to the optical system under test, as well as inspection with long coherence sources, while the addition of the M-Z ifo permits measurement with long or short coherence sources, allows measurement of the output beam, and permits the system to operate in a receive-only mode with an external source. The inspection device provides versatile functionality and redundancy for using a single inspection device in a variety of situations and manners in the same application.
(FR)L’invention concerne un dispositif d’inspection à ifo (interféromètre) combinés qui inclut un ifo T-G, Twyman-Green, (80) optiquement couplé à un ifo M-Z, Mach-Zehnder, (82). Les version MEMS et MOEMS permettent une substantielle réduction de taille et de poids, autorisant l’intégration permanente d’un dispositif d’inspection dans un système optique ce qui permet l’inspection à distance et automatisée et/ou le réglage du système optique. Le dispositif d’inspection autorise l’usage de sources de lumière de différentes longueurs de cohérence et la réception d’un signal de sortie d’un système optique (70). L’addition de l’ifo T-G à l’ifo M-Z aide à l’alignement de pinholes et l’alignement général avec le système optique sous test, ainsi que l’inspection avec des sources de longue cohérence, alors que l’addition de l’ifo M-Z permet la mesure avec des sources de cohérence longue ou courte, la mesure du faisceau de sortie, et permet au système de fonctionner en mode réception seule à l’aide d’une source externe. Le dispositif d’inspection offre des fonctionnalités polyvalentes et une redondance pour l’utilisation d’un unique dispositif d’inspection dans des situations et modes variés dans la même application.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)