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1. (WO2006126989) PROCEDE ET APPAREIL POUR L'ANALYSE DE SYSTEME SUR LA BASE DE MODELES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/126989    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/018003
Date de publication : 30.11.2006 Date de dépôt international : 23.05.2005
CIB :
G06F 9/44 (2006.01)
Déposants : SUN MICROSYSTEMS, INC., [US/US]; 4150 Network Circle, Santa Clara, CA 95054 (US) (Tous Sauf US).
ALI, Syed, M. [US/US]; (US) (US Seulement).
KAMEN, Yury [US/US]; (US) (US Seulement).
ALUR, Deepak [IN/US]; (US) (US Seulement).
CRUPI, John, P. [US/US]; (US) (US Seulement).
MALKS, Daniel, B. [US/US]; (US) (US Seulement).
KRISHNAMURTHY, Rajmohan [IN/US]; (US) (US Seulement).
GODFREY, Michael, W. [CA/CA]; (CA) (US Seulement)
Inventeurs : ALI, Syed, M.; (US).
KAMEN, Yury; (US).
ALUR, Deepak; (US).
CRUPI, John, P.; (US).
MALKS, Daniel, B.; (US).
KRISHNAMURTHY, Rajmohan; (US).
GODFREY, Michael, W.; (CA)
Mandataire : OSHA, Jonathan, P.; Osha & May, L.L.P., Suite 2800, 1221 McKinney Street, Houston, TX 77010 (US)
Données relatives à la priorité :
11/134,021 20.05.2005 US
11/134,062 20.05.2005 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR PATTERN-BASED SYSTEM DESIGN ANALYSIS
(FR) PROCEDE ET APPAREIL POUR L'ANALYSE DE SYSTEME SUR LA BASE DE MODELES
Abrégé : front page image
(EN)A method for analyzing a target system, where the method includes obtaining a plurality of characteristics from the target system using a characteristics extractor wherein each of the plurality of characteristics is associated with a characteristics model, storing each of the plurality of characteristics obtained from the target system in a characteristics store, and analyzing the target system by issuing at least one query to the characteristics store to obtain an analysis result.
(FR)L'invention concerne un procédé pour analyser un système cible, consistant à: obtenir une pluralité de caractéristiques à partir du système cible au moyen d'un extracteur de caractéristiques, chacune des caractéristiques étant associée à un modèle de caractéristiques; mémoriser chacune des caractéristiques obtenues à partir du système cible dans une mémoire de caractéristiques; et analyser le système cible par envoi d'au moins une demande à la mémoire de caractéristiques dans le but d'obtenir un résultat d'analyse.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)