WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2006126880) MICROSCOPE ELECTRONIQUE DE TRANSMISSION PAR BALAYAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/126880    N° de la demande internationale :    PCT/NL2006/050120
Date de publication : 30.11.2006 Date de dépôt international : 19.05.2006
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    03.04.2007    
CIB :
H01J 37/26 (2006.01), H01J 37/244 (2006.01)
Déposants : TECHNISCHE UNIVERSITEIT DELFT [NL/NL]; Julianalaan 134, NL-2628 BL Delft (NL) (Tous Sauf US).
KRUIT, Pieter [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : KRUIT, Pieter; (NL)
Mandataire : VAN BREDA, Jacques; 20052, Weteringschans 96, 1017 Xs Amsterdam, Netherlands, NL-1000 HB Amsterdam (NL)
Données relatives à la priorité :
1029129 25.05.2005 NL
Titre (EN) SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
(FR) MICROSCOPE ELECTRONIQUE DE TRANSMISSION PAR BALAYAGE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a scanning transmission electron microscope comprising an electron source (1) , an electron accelerator (4) and deflection means (5) for directing electrons emitted by the electron source at an object (2) to be examined, and in addition a detector (7) for detecting electrons coming from the object and, connected to the detector, a device for processing the detected electrons so as to form an object image, wherein a beam splitter (3) is provided for dividing the electron beam from the electron source into beamlets to be directed at the object to be examined, and wherein the detector is designed for the detection of separate electron patterns that correspond to said beamlets .
(FR)L'invention concerne un microscope électronique de transmission par balayage comprenant une source d'électrons, un accélérateur d'électrons et un moyen de déflexion destiné à diriger les électrons émis par la source d'électrons vers un objet à examiner, et un détecteur destiné à détecter les électrons provenant de l'objet et, connecté au détecteur, un dispositif de traitement des électrons détectés de manière à former une image de l'objet. Un diviseur de faisceau est destiné à diviser le faisceau d'électrons de la source d'électrons en sous-faisceaux destinés à être dirigés vers l'objet à examiner, le détecteur étant destiné à détecter des motifs d'électrons séparés correspondant auxdits sous-faisceaux.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : néerlandais; flamand (NL)