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1. (WO2006126544) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA LUMINOSITÉ D'UN CORPS ÉMETTEUR DE LUMIÈRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/126544    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/310259
Date de publication : 30.11.2006 Date de dépôt international : 23.05.2006
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    22.03.2007    
CIB :
G01J 1/02 (2006.01), G01M 11/00 (2006.01)
Déposants : AVAILVS CORPORATION [JP/JP]; 7-4, Rokuban-cho, Chiyoda-ku, Tokyo 1020085 (JP) (Tous Sauf US).
SAITO, Kenichiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SAKAI, Mieko [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SAITO, Kenichiro; (JP).
SAKAI, Mieko; (JP)
Mandataire : NISHIZAWA, Toshio; Three F Minami Aoyama Bldg. 7F 11-1, Minami-Aoyama 6-chome Minato-ku, Tokyo 1070062 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-150241 23.05.2005 JP
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR MEASURING BRIGHTNESS OF LIGHT EMITTING BODY
(FR) PROCÉDÉ ET DISPOSITIF DE MESURE DE LA LUMINOSITÉ D'UN CORPS ÉMETTEUR DE LUMIÈRE
(JA) 発光体の輝度測定方法とその装置
Abrégé : front page image
(EN)A method and an apparatus are provided for measuring brightness of a light emitting body which has a fixed surface area and emits a minute quantity of light. Measurement is performed by bringing a light receiving plane of an optical sensor into direct contact with a surface of the light emitting body. As the optical sensor, a semiconductor sensor panel or a solar cell panel is preferably used. Thus, brightness can be simply, easily and correctly measured without using complicated and troublesome means, such as a darkroom and a lens concentrating system, even when the light emission is minute.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un dispositif pour mesurer la luminosité d’un corps émetteur de lumière dont l'aire de surface est fixe et qui émet une quantité infime de lumière. La mesure est effectuée en mettant le plan récepteur de lumière d’un capteur optique en contact direct avec une surface du corps émetteur de lumière. On utilise de préférence comme capteur optique un panneau capteur semi-conducteur ou un panneau de cellules solaires. On peut ainsi mesurer simplement, facilement et correctement la luminosité sans utiliser des moyens compliqués et problématiques, comme une chambre noir ou un système concentrateur à lentilles, même lorsque la lumière émise est infime.
(JA) 一定の面積の表面を有し微少な光量を発する発光体の輝度を測るものであり、光センサの受光面を直接前記発光体の表面に接触させて測定を行う。光センサとしては半導体センサパネルまたは太陽電池パネルが好ましく使用される。これにより、微弱な発光であっても、暗室やレンズ集光システムという複雑で面倒な手段を採用しなくても、簡便、容易に、しかも適切に輝度が測定できるようになる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)