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1. (WO2006125696) PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION D'UNE MASSE SURFACIQUE ET/OU D'UNE COMPOSITION CHIMIQUE D'UN ECHANTILLON DE MATERIAU EN ACHEMINEMENT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/125696    N° de la demande internationale :    PCT/EP2006/061518
Date de publication : 30.11.2006 Date de dépôt international : 11.04.2006
CIB :
G01N 23/16 (2006.01)
Déposants : MAHLO GMBH & CO. KG [DE/DE]; Donaustr. 12, 93342 Saal (DE) (Tous Sauf US).
ZERLE, Ludwig [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : ZERLE, Ludwig; (DE)
Mandataire : KRUSPIG, Volkmar; Meissner, Bolte & Partner GbR, Postfach 86 06 24, 81633 München, Widenmayerstr. 48, 80538 München (DE)
Données relatives à la priorité :
102005020679.4 03.05.2005 DE
102005048644.4 11.10.2005 DE
Titre (DE) VERFAHREN UND ANORDNUNG ZUR BESTIMMUNG EINES FLÄCHENGEWICHTES UND/ODER EINER CHEMISCHEN ZUSAMMENSETZUNG EINER GEFÖRDERTEN MATERIALPROBE
(EN) METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING A WEIGHT PER UNIT AREA AND/OR A CHEMICAL COMPOSITION OF AN EXTRACTED MATERIAL SAMPLE
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF DE DETERMINATION D'UNE MASSE SURFACIQUE ET/OU D'UNE COMPOSITION CHIMIQUE D'UN ECHANTILLON DE MATERIAU EN ACHEMINEMENT
Abrégé : front page image
(DE)Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung eines Flächengewichtes und/oder einer chemischen Zusammensetzung einer geförderten Materialprobe. Das Verfahren ist durch folgende Verfahrensschritte gekennzeichnet: Emittieren von Primärstrahlung in Form von hochenergetischer Röntgenstrahlung aus einer primären Röntgenquelle, Absorption der Primärstrahlung durch einen hinter der Materialprobe angeordneten Strahlungskonverter, Emission von Sekundärstrahlung in Form von niederenergetischer Röntgenstrahlung durch Anregung des Strahlungskonverters, Transmission und Streuung der Sekundärstrahlung durch die Materialprobe, Detektierung und Auswertung der durch die Materialprobe transmittierten und gestreuten Sekundärstrahlung durch eine Detektoranordnung. Eine Anordnung zur Bestimmung eines Flächengewichtes und/oder einer chemischen Zusammensetzung einer geförderten Materialprobe (5), ist gekennzeichnet durch einen vor einer ersten Seite der Materialprobe angeordneten Messkopf (10) enthaltend eine auf die Materialprobe gerichtete primäre Röntgenquelle (20) und eine auf die Materialprobe gerichtete Detektoranordnung (30) und einen hinter der Materialprobe in einem festen Abstand bezüglich des Messkopfes angeordneten Strahlungskonverter (40).
(EN)The invention relates to a method for determining the weight per unit area and/or a chemical composition of an extracted material sample. The inventive method is characterized by the following steps: emitting primary radiation in the form of high-energy X-radiation from a primary X-ray source, absorbing the primary radiation by means of a radiation converter disposed behind the material sample, emitting secondary radiation in the form of low-energy X-radiation by exciting the radiation converter, transmitting and scattering the secondary radiation by the material sample, detecting and evaluating the secondary radiation transmitted and scattered by the material sample by means of a detector system. A system for determining a weight per unit area and/or a chemical composition of an extracted material sample (5) is characterized by a measuring head (10) arranged in front of a first side of the material sample. Said measuring head comprises a primary X-ray source (20) directed onto the material sample and a detector system (30) directed onto the material sample and a radiation converter (40) arranged behind the material sample at a fixed distance to the measuring head.
(FR)L'invention concerne un procédé de détermination d'une masse surfacique et/ou d'une composition chimique d'un échantillon de matériau en acheminement. Le procédé est caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes : émission d'un rayonnement primaire, sous forme de rayons X haute énergie, provenant d'une source de rayons X primaire, absorption du rayonnement primaire à travers un convertisseur de rayonnement disposé à l'arrière de l'échantillon de matériau, émission d'un rayonnement secondaire, sous forme de rayons X faible énergie, par excitation du convertisseur de rayonnement, transmission et dispersion du rayonnement secondaire à travers l'échantillon de matériau, détection et évaluation du rayonnement secondaire transmis et dispersé à travers l'échantillon de matériau, au moyen d'un dispositif détecteur. L'invention concerne également un dispositif de détermination d'une masse surfacique et/ou d'une composition chimique d'un échantillon de matériau en acheminement (5), caractérisé en ce qu'il comprend une tête de mesure (10) disposée devant un premier côté de l'échantillon de matériau, ladite tête de mesure renfermant une source de rayons X primaire (20) dirigée sur ledit échantillon, et un dispositif détecteur (30) dirigée sur ledit échantillon, et un convertisseur de rayonnement (40) disposé à l'arrière de l'échantillon de matériau, à une distance fixe par rapport à la tête de mesure.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)