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1. (WO2006124536) APPAREIL DE RETRODIFFUSION DE RAYONNEMENT BETA PERMETTANT DE DETERMINER L'EPAISSEUR ET L'UNIFORMITE DES REVETEMENTS ANTI-SABOTAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/124536    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/018314
Date de publication : 23.11.2006 Date de dépôt international : 10.05.2006
CIB :
G01N 23/203 (2006.01), G01B 15/02 (2006.01)
Déposants : HONEYWELL INTERNATIONAL INC. [US/US]; 101 COLUMBIA ROAD, P.o.box 2245, Morristown, NJ 07960 (US) (Tous Sauf US).
DALZELL, William, I. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : DALZELL, William, I.; (US)
Mandataire : HOIRIIS, David; HONEYWELL INTERNATIONAL INC., 101 COLUMBIA ROAD, P.o. Box 2245, Morristown, NJ 07960 (US)
Données relatives à la priorité :
11/128,500 13.05.2005 US
Titre (EN) BETA-RAY BACKSCATTER APPARATUS FOR DETERMINING THICKNESS AND UNIFORMITY OF ANTI -TAMPER COATINGS
(FR) APPAREIL DE RETRODIFFUSION DE RAYONNEMENT BETA PERMETTANT DE DETERMINER L'EPAISSEUR ET L'UNIFORMITE DES REVETEMENTS ANTI-SABOTAGE
Abrégé : front page image
(EN)An improved system and method are disclosed for non-destructively determining the thickness and uniformity of an anti-tamper coating on a sensitive electronic part, such as, for example, an integrated circuit, multi-chip module, or other type of electronic device, component or equipment. For example, a system for non- destructively determining the thickness and uniformity of an anti-tamper coating is disclosed, which includes an anti-tamper coating thickness measurement probe with a highly collimated beta radiation source and a Geiger-Müller tube (e.g., 'Geiger Counter') sensitive to beta radiation arranged in close proximity to the beta radiation source. The probe is placed on or in close proximity to the anti-tamper coating on the part, so that the beta radiation electrons penetrate the coating material and are reflected back (back scattered) toward the beta radiation source and the Geiger-MËller tube. The Geiger-MËller tube collects the electrons from the back scattered (reflected) radiation, a rate meter associated with the Geiger-MËller tube counts the collected electrons, and a conversion unit converts the electron count value of the back scattered radiation to a thickness value for the anti-tamper coating. The uniformity of the anti-tamper coating can be determined by performing such thickness tests at multiple locations on the coated part. Thus, the disclosed system and method provide an approach that can be used to determine the thickness and uniformity of the anti-tamper coating on a sensitive electronic part, without affecting the performance and quality of the anti-tamper coating or the part.
(FR)L'invention concerne un système et un procédé amélioré permettant de déterminer de façon non destructive l'épaisseur et l'uniformité d'un revêtement anti-sabotage sur une partie électronique sensible, telle qu'un circuit intégré, un boîtier multipuce ou un autre type de dispositif, de composant ou d'équipement électronique. L'invention concerne, par exemple, un système permettant de déterminer de façon non destructive l'épaisseur et l'uniformité d'un revêtement anti-sabotage qui comprend une sonde de mesure de l'épaisseur d'un revêtement anti-sabotage avec une source de rayonnement bêta à collimation élevée et un tube Geiger-Müller (par exemple, un compteur Geiger-Müller) sensible au rayonnement bêta disposé à proximité étroite de la source de rayonnement bêta. La sonde est placée sur le revêtement anti-sabotage ou à proximité étroite du revêtement anti-sabotage sur la partie électronique, de sorte que les électrons de rayonnement bêta pénètrent dans le matériau de revêtement et soient réfléchis (rétrodiffusés) en direction de la source de rayonnement bêta et du tube Geiger-Müller. Le tube Geiger-Müller recueille les électrons du rayonnement rétrodiffusé (réfléchi), un débitmètre associé au tube Geiger-Müller compte les électrons et une unité de conversion convertit la valeur du décompte d'électrons du rayonnement rétrodiffusé en une valeur d'épaisseur pour le revêtement anti-sabotage. L'uniformité du revêtement anti-sabotage peut être déterminée au moyen de ces tests d'épaisseur en plusieurs endroits de la partie revêtue. Par conséquent, le système et le procédé selon l'invention fournissent une méthode qui peut servir à déterminer l'épaisseur et l'uniformité du revêtement anti-sabotage sur une partie électronique sensible, sans avoir de conséquence sur le rendement et la qualité du revêtement anti-sabotage ou de la partie électronique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)