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1. (WO2006124282) PROCEDE ET APPAREIL DE TEST POUR DISPOSITIFS RFID
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/124282    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/016898
Date de publication : 23.11.2006 Date de dépôt international : 01.05.2006
CIB :
G01R 31/319 (2006.01)
Déposants : ALIEN TECHNOLOGY CORPORATION [US/US]; 18220 Butterfield Boulevard, Morgan Hill, California 95037 (US) (Tous Sauf US).
CARRENDER, Curtis Lee [US/US]; (US) (US Seulement).
HADLEY, Mark A. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : CARRENDER, Curtis Lee; (US).
HADLEY, Mark A.; (US)
Mandataire : SCHELLER, James C.; BLAKELY, SOKOLOFF, TAYLOR & ZAFMAN LLP, 12400 WILSHIRE BOULEVARD, 7th Floor, Los Angeles, California 90025 (US)
Données relatives à la priorité :
11/127,697 11.05.2005 US
Titre (EN) METHOD AND APPARATUS FOR TESTING RFID DEVICES
(FR) PROCEDE ET APPAREIL DE TEST POUR DISPOSITIFS RFID
Abrégé : front page image
(EN)A method and apparatus for testing RFID straps. Arrays of RFID straps in a roll to-roll process are coupled to an array of test elements. RF programming and interrogation signals are frequency and time multiplexed to the RFlD array. Return signals are detected to determine sensitivity and programmability parameters of the RFID straps.
(FR)La présente invention concerne un procédé et un appareil permettant de tester les attaches RFID. Dans le cadre d'un processus de dépôt continu à rouleaux, une série d'attaches RFID est jumelée à une série d'éléments de test. Les signaux de programmation et d'interrogation par radiofréquence sont multiplexés en fréquence et en temps à l'ensemble RFlD. Les signaux de retour sont détectés, afin de déterminer les paramètres de sensibilité et de programmabilité des attaches RFID.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)