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1. (WO2006123553) CIRCUIT DE TEST POUR ECRANS A CRISTAUX LIQUIDES, ECRAN A, CRISTAUX LIQUIDES COMPRENANT CE CIRCUIT, ET PROCEDE DE TEST POUR ECRANS A CRISTAUX LIQUIDES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/123553    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/309336
Date de publication : 23.11.2006 Date de dépôt international : 09.05.2006
CIB :
G02F 1/1368 (2006.01), G01R 31/00 (2006.01), G02F 1/13 (2006.01), G02F 1/133 (2006.01), G09G 3/20 (2006.01), G09G 3/36 (2006.01)
Déposants : TPO HONG KONG HOLDING LIMITED [CN/CN]; Floor 2, Philips Electronics Building 5, Science Park East Avenue, Shatin, Hong Kong (CN) (Tous Sauf US).
HASHIMOTO, Kazuyuki [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HASHIMOTO, Kazuyuki; (JP)
Mandataire : YOSHITAKE, Kenji; Kyowa Patent & Law Office, Room 323, Fuji Bldg., 2-3, Marunouchi 3-chome, Chiyoda-ku, Tokyo 100-0005 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-145860 18.05.2005 JP
Titre (EN) LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE TEST CIRCUIT, LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE INCORPORATING THIS, AND LIQUID CRYSTAL DISPLAY DEVICE TEST METHOD
(FR) CIRCUIT DE TEST POUR ECRANS A CRISTAUX LIQUIDES, ECRAN A, CRISTAUX LIQUIDES COMPRENANT CE CIRCUIT, ET PROCEDE DE TEST POUR ECRANS A CRISTAUX LIQUIDES
(JA) 液晶表示装置試験回路およびこれを組み込んだ液晶表示装置、並びに液晶表示装置の試験方法
Abrégé : front page image
(EN)A test circuit of a simple structure for detecting a failure of a liquid crystal display device, a liquid crystal display device incorporating the test circuit, and a liquid crystal test method are provided. The liquid crystal display device test circuit is provided on the same substrate as a liquid crystal display section (10)in which liquid crystal display elements are arranged in a matrix connected to the drains of thin-film transistors, the gates of the thin-film transistors of each row are connected commonly to a row line driven by a row driver, the sources of the thin-film transistors of each column are connected commonly to a column line, a voltage in accordance with the gradation of a display image is supplied to each column line by a column driver. The test circuit is used for at least either the row lines or the column lines and comprises comparator circuits (111 to 11n) provided for the row/column lines and used for detecting the selected states of the row/column lines, encoder circuits (121 to 12n) for detecting the numbers of the selected row/column lines by bidirectional scanning between the ends of the row/column lines from the results of the comparison by the comparator circuits, and varying the levels of bus lines constituting a bus according to the detected numbers, and a read circuit (16) for reading the levels of the bus lines varied by the encoder circuits, detecting whether the numbers of the row/column lines detected by the bidirectional scanning match or do not matched, and outputting them.
(FR)L'invention concerne un circuit de test présentant une structure simple, permettant de détecter une défaillance dans un écran à cristaux liquides, un écran à cristaux liquides comprenant ce circuit de test, et un procédé de test pour écrans à cristaux liquides. Ce circuit de test d'écran à cristaux liquides est formé sur le même substrat qu'une section (10) de l'écran à cristaux liquides comprenant des éléments d'affichage à cristaux liquides disposés de manière à former une matrice, connectés aux drains de transistors en couches minces. Les grilles des transistors en couches minces de chaque ligne sont connectés en commun à un conducteur de ligne activé par un circuit d'attaque de ligne, les sources des transistors en couches minces de chaque colonne sont connectées en commun à un conducteur de colonne activé par un circuit d'attaque de colonne, et les sources des transistors en couches minces de chaque colonne sont connectées en commun à un conducteur de colonne. Une tension correspondant à la gradation d'une image affichée est fournie à chaque colonne par un circuit d'attaque de colonne. Le circuit de test peut être appliqué aux conducteurs de lignes et/ou aux conducteurs de colonnes, et comprend des circuits comparateurs (111, à 11n) pour les conducteurs de lignes/colonnes, servant à détecter les états choisis des conducteurs de lignes/colonnes, des circuits de codage (121 à 12n) permettant de détecter les numéros des conducteurs de lignes/colonnes choisis, par balayage bidirectionnel entre les extrémités des conducteurs de lignes/colonnes, à partir des résultats de la comparaison opérée par les circuits comparateurs, et de modifier les niveaux des conducteurs formant un bus en fonction des numéros détectés, et un circuit de lecture (16) permettant de lire les niveaux des lignes de bus modifiés par les circuits de codage, de vérifier si les numéros des lignes des colonnes détectés par balayage concordent, et de produire une sortie comprenant ces numéros.
(JA) 簡単な構成で液晶表示装置の不良を検出することのできる試験回路、この試験回路を組み込んだ液晶表示装置および液晶表示装置試験方法を提供する。  液晶表示装置試験回路は、液晶表示部(10)をなすマトリクス状に配置された液晶表示素子にドレインがそれぞれ接続された薄膜トランジスタのゲートを行単位に共通接続し行ドライバで駆動される行線、および前記薄膜トランジスタのソースを列単位で共通接続し表示画像の階調に応じた電圧が列ドライバより供給される列線の少なくともいずれかについて、各行/列線の選択状態を検出する前記各行/列線ごとに設けられた比較回路(11~11)と、前記比較回路における比較結果に基づき、行/列線の両端間の双方向走査を行って選択された行/列線の番号を検出し、この検出番号に対応してバスを構成する複数本のバス線のレベルを変化させる符号化回路(12~12)と、前記符号化回路による前記バス線のレベルを読み出し、前記双方向走査により検出された行/列線の番号の一致/不一致を検出して出力する読み出し回路(16)とを、液晶表示部と同一の基板上に備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)