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1. (WO2006122780) DISPOSITIF DE MESURE DE CHAMP, MODULE DE MESURE POUR DISPOSITIF DE MESURE DE CHAMP ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UNE PLURALITE DE MODULES DE MESURE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication : WO/2006/122780 N° de la demande internationale : PCT/EP2006/004671
Date de publication : 23.11.2006 Date de dépôt international : 17.05.2006
CIB :
G01R 33/02 (2006.01) ,G01P 15/08 (2006.01)
Déposants : NOETZEL, Ralf[DE/DE]; DE (UsOnly)
STUTE, Georg[DE/DE]; DE (UsOnly)
GOTTFRIED-GOTTFRIED, Ralf[DE/DE]; DE (UsOnly)
BARTOS, Axel[DE/DE]; DE (UsOnly)
HOFFMANN, Martin[DE/DE]; DE (UsOnly)
HL-PLANAR TECHNIK GMBH[DE/DE]; Hauert 13 44227 Dortmund, DE (AllExceptUS)
Inventeurs : NOETZEL, Ralf; DE
STUTE, Georg; DE
GOTTFRIED-GOTTFRIED, Ralf; DE
BARTOS, Axel; DE
HOFFMANN, Martin; DE
Mandataire : KÖNIG, Reimar ; Lohengrinstrasse 11 40549 Düsseldorf, DE
Données relatives à la priorité :
10 2005 023 591.318.05.2005DE
Titre (EN) FIELD MEASURING DEVICE, MEASUREMENT MODULE FOR A FIELD MEASURING DEVICE AND METHOD OF PRODUCING A PLURALITY OF MEASUREMENT MODULES
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE CHAMP, MODULE DE MESURE POUR DISPOSITIF DE MESURE DE CHAMP ET PROCEDE DE PRODUCTION D'UNE PLURALITE DE MODULES DE MESURE
(DE) FELDMESSEINRICHTUNG, MESSBAUGRUPPE FÜR EINE FELDMESSEINRICHTUNG UND HERSTELLUNGSMETHODE FÜR EINE MEHRZAHL VON MESSBAUGRUPPEN
Abrégé : front page image
(EN) The invention relates to a field measuring device with a measurement module that is connected to a base plate, said measurement module having a first field sensor chip located in a first plane, and a second field sensor chip located in a second plane and disposed to the first plane at an angle 0° < $g(a)< 180°. The first field sensor chip is located above the base plate and the second field sensor chip is located between the first field sensor chip and the base plate.
(FR) L'invention concerne un dispositif de mesure de champ comprenant un module de mesure qui est relié à une plaque de base, ce module de mesure présentant une première puce à capteur de champ qui est disposée dans un premier plan, ainsi qu'une seconde puce à capteur de champ qui est disposée dans un second plan placé selon un angle $g(a) compris entre 0° et 180° par rapport au premier plan. La première puce à capteur de champ est disposée au-dessus de la plaque de base et la seconde puce à capteur de champ est disposée entre la première puce à capteur de champ et la plaque de base.
(DE) Feldmesseinrichtung mit einer Messbaugruppe, die mit einer Basisplatte verbunden ist, wobei die Messbaugruppe einen ersten Feldsensor-Chip aufweist, der in einer ersten Ebene angeordnet ist, und einen zweiten Feldsensor-Chip aufweist, der in einer zweiten, zur ersten in einem Winkel 0° < &agr; < 180° angeordneten Ebene angeordnet ist. Der erste Feldsensor-Chip ist oberhalb der Basisplatte angeordnet und der zweite Feldsensor-Chip ist zwischen dem ersten Feldsensor-Chip und der Basisplatte angeordnet.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)