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1. (WO2006118943) SYSTEMES ET PROCEDES D'INSPECTION DES DEFAUTS D'UNE PALETTE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/118943    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/016015
Date de publication : 09.11.2006 Date de dépôt international : 26.04.2006
CIB :
G01N 3/00 (2006.01)
Déposants : THE PROCTER & GAMBLE COMPANY [US/US]; One Procter & Gamble Plaza, Cincinnati, Ohio 45202 (US) (Tous Sauf US).
HARDMAN, James, Laurence, Jr. [US/US]; (US) (US Seulement).
CRAWFORD, Charles, Pierce, II [US/US]; (US) (US Seulement).
HERSHEY, Donald, Emerson [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HARDMAN, James, Laurence, Jr.; (US).
CRAWFORD, Charles, Pierce, II; (US).
HERSHEY, Donald, Emerson; (US)
Représentant
commun :
THE PROCTER & GAMBLE COMPANY; c/o HUGHETT, Eileen L., The Procter & Gamble Company, Winton Hill Business Center, 6110 Center Hill Road, Cincinnati, Ohio 45224 (US)
Données relatives à la priorité :
11/121,610 04.05.2005 US
Titre (EN) PALLET DEFECT INSPECTION SYSTEMS AND METHODS
(FR) SYSTEMES ET PROCEDES D'INSPECTION DES DEFAUTS D'UNE PALETTE
Abrégé : front page image
(EN)Systems and methods for detecting a defect in a pallet comprising a load applicator operable to apply a predetermined load force to a top or bottom surface of a pallet, and a sensor operable to detect a portion of a surface opposite the top or bottom surface to which a load force is applied, extending downwardly or upwardly, respectively, more than a predetermined distance.
(FR)La présente invention concerne des systèmes et des procédés de détection d'un défaut sur une palette qui consistent à utiliser un applicateur de charge pour appliquer une force de charge prédéterminée sur une surface supérieure ou inférieure d'une palette et un capteur pour détecter une partie d'une surface opposée à la surface supérieure ou inférieure opposée sur laquelle est appliquée la force de charge, qui s'étend vers le bas ou vers la haut, respectivement, au-delà d'une distance prédéterminée.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)