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1. (WO2006118184) DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/118184    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/308819
Date de publication : 09.11.2006 Date de dépôt international : 27.04.2006
CIB :
H04B 17/00 (2006.01)
Déposants : NEC CORPORATION [JP/JP]; 7-1, Shiba 5-chome, Minato-ku, Tokyo 1088001 (JP) (Tous Sauf US).
TANAKA, Akio [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : TANAKA, Akio; (JP)
Mandataire : MIYAZAKI, Teruo; 8th Floor, 16th Kowa Bldg. 9-20, Akasaka 1-chome Minato-ku Tokyo1070052 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-130913 28.04.2005 JP
Titre (EN) SEMICONDUCTOR DEVICE
(FR) DISPOSITIF SEMI-CONDUCTEUR
(JA) 半導体装置
Abrégé : front page image
(EN)A plurality of circuit blocks are provided in a semiconductor device which collects and corrects impairment quantities of discretionary areas in a circuit group of various types having random couplings. The semiconductor device is provided with a detector, which is arranged in each circuit block and detects an electric signal of an element in the circuit block; a wiring wherein each detector output passes through; a plurality of switches for feeding the wiring with each detector output; and a buffer connected to the wiring and passes through a direct current voltage.
(FR)Dans la présente invention, une pluralité de blocs de circuits est tracée sur un dispositif semi-conducteur qui collecte et corrige les quantités de dégradation de chacune des zones dans un groupe de circuits de types différents présentant des couplages aléatoires. Le dispositif semi-conducteur comporte un détecteur, qui est disposé dans chaque bloc de circuits et détecte un signal électrique d'un élément du bloc de circuits ; un circuit traversé par chaque sortie du détecteur ; une pluralité de contacts d’alimentation pour le circuit traversé par les sorties de chaque détecteur ; et un tampon connecté au circuit et passant par une tension en courant continu.
(JA) ランダムな結合を有する異種の回路群の任意の箇所のインペアメント量を収集し補正することができる半導体装置は、複数の回路ブロックを有する半導体装置であって、各回路ブロックに配置され、その回路ブロックの素子の電気信号を検出する検出器と、各検出器出力が通過する配線と、各検出器出力を配線に送り出す複数のスイッチと、配線に接続し直流電圧を通過させるバッファと、を備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)