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1. (WO2006116564) INSTRUMENTS, APPAREILS ET PROCEDES D'ANALYSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/116564    N° de la demande internationale :    PCT/US2006/015948
Date de publication : 02.11.2006 Date de dépôt international : 25.04.2006
CIB :
H01J 49/00 (2006.01)
Déposants : GRIFFIN ANALYTICAL TECHNOLOGIES, L.L.C. [US/US]; 3000 Kent Avenue, West Lafayette, Indiana 47906 (US) (Tous Sauf US).
RARDIN, Brent [US/US]; (US) (US Seulement).
WELLS, James, Mitchell [US/US]; (US) (US Seulement).
PATTERSON, Garth, E. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : RARDIN, Brent; (US).
WELLS, James, Mitchell; (US).
PATTERSON, Garth, E.; (US)
Mandataire : HYTA, Robert, C.; WELLS ST. JOHN, P.S., 601 W. First Avenue, Spokane, Washington 99201 (US)
Données relatives à la priorité :
60/675,340 25.04.2005 US
Titre (EN) ANALYTICAL INSTRUMENTATION, APPARTUSES, AND METHODS
(FR) INSTRUMENTS, APPAREILS ET PROCEDES D'ANALYSE
Abrégé : front page image
(EN)A sample analysis apparatus (10) includes processing circuitry (22) coupled to a data set device (20) and a storage device (24) to acquire one data set from an analysis component (14) according to one analysis parameter set and to prepare another analysis parameter set using another previously acquired data set.
(FR)L'invention concerne des appareils d'analyse d'échantillon qui comprennent des circuits de traitement configurés pour acquérir un ensemble de données d'un composant d'analyse configuré en fonction d'un ensemble de paramètres d'analyse, et pour préparer un autre ensemble de paramètres d'analyse au moyen de l'ensemble de données déjà acquises. L'invention porte également sur des procédés d'analyse d'échantillon qui consistent à acquérir un premier et un second ensemble de données d'un composant d'analyse et à utiliser le composant de traitement et de commande pour traiter le premier ensemble de données et préparer un second ensemble de paramètres de composant d'analyse. L'invention se rapporte à des instruments d'analyse d'échantillon qui comprennent des circuits de traitement couplés à un dispositif de stockage, lequel dispositif de stockage comprend des ensembles de paramètres de composant d'analyse associés à des valeurs de paramètres de données, des ensembles de paramètres de composants individuels étant associés à des valeurs de paramètres de données individuelles
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)