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1. (WO2006115114) PLAQUE A ZONES DE FRESNEL ET MICROSCOPE A RAYONS X UTILISANT LADITE PLAQUE A ZONES DE FRESNEL
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/115114    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/308108
Date de publication : 02.11.2006 Date de dépôt international : 18.04.2006
CIB :
G21K 1/06 (2006.01), G01N 23/04 (2006.01), G02B 5/18 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01), G21K 7/00 (2006.01)
Déposants : KYOTO INSTITUTE OF TECHNOLOGY [JP/JP]; 1-banchi, Hashikami-cho, Matsugasaki, Sakyo-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6068585 (JP) (Tous Sauf US).
ENDOH, Hisamitsu [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : ENDOH, Hisamitsu; (JP)
Mandataire : WATANABE, Mitsuhiko; OSAKA NIKKO BUILDING 11-8, Sonezaki 2-chome Kita-ku, Osaka-shi Osaka 5300057 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-121990 20.04.2005 JP
Titre (EN) FRESNEL ZONE PLATE AND X-RAY MICROSCOPE USING THE FRESNEL ZONE PLATE
(FR) PLAQUE A ZONES DE FRESNEL ET MICROSCOPE A RAYONS X UTILISANT LADITE PLAQUE A ZONES DE FRESNEL
(JA) フレネルゾーンプレート及び該フレネルゾーンプレートを使用したX線顕微鏡
Abrégé : front page image
(EN)[PROBLEMS] To provide a Fresnel zone plate having a complex irradiation function capable of improving resolution even when the outermost opaque band width cannot be reduced and an X-ray microscope using the Fresnel zone plane. [MEANS FOR SOLVING PROBLEMS] A Fresnel zone plate (1) having complex irradiation function have opaque bands (3) and transparent bands (4) arranged alternately in the radial direction from the center of a flat transparent substrate (2). The Fresnel zone plate have a transmission widow (7) so that a part of plane wave vertically applied onto the upper surface of the substrate (2) vertically advances directly to a sample (6) arranged below the Fresnel zone plate (1).
(FR)Le problème à résoudre dans le cadre de cette invention consiste à prévoir une plaque à zones de Fresnel ayant une fonction d’irradiation complexe capable d’améliorer la résolution même lorsque la largeur de la structure opaque la plus extérieure ne peut pas être réduite, et un microscope à rayons X utilisant ladite plaque à zones de Fresnel. La solution proposée consiste en une plaque à zones de Fresnel (1) ayant une fonction d’irradiation complexe qui a des structures opaques (3) et des structures transparentes (4) disposées alternativement dans le sens radial à partir du centre d’un substrat plat et transparent (2). Ladite plaque à zones de Fresnel a une fenêtre de transmission (7) telle qu’une partie d’onde plane appliquée verticalement sur la surface supérieure du substrat (2) avance verticalement directement sur un échantillon (6) disposé au-dessous de la plaque à zones de Fresnel (1).
(JA)【課題】最外周の不透明帯の幅を小さくすることができない場合でも、分解能を向上させることができる複合照射機能をもつフレネルゾーンプレート及び該フレネルゾーンプレートを使用したX線顕微鏡を提供すること。 【解決手段】本発明の複合照射機能をもつフレネルゾーンプレート1は、平板状の透明基板2上に、中心から半径方向に向けて同心円状に不透明帯3と透明帯4とを交互に配し、上面に垂直照射された平面波の一部が、散乱することなくフレネルゾーンプレート1の下方に配設された試料6にそのまま垂直入射するように、透過窓7を形成したものである。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)