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1. (WO2006115042) INSTRUMENT, DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURE DE LA REFRINGENCE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/115042    N° de la demande internationale :    PCT/JP2006/307646
Date de publication : 02.11.2006 Date de dépôt international : 11.04.2006
CIB :
G01N 21/41 (2006.01), G01N 21/03 (2006.01)
Déposants : OHARA INC. [JP/JP]; 15-30, Oyama 1-chome, Sagamihara-shi, Kanagawa 2291186 (JP) (Tous Sauf US).
DAIMON, Masahiko [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : DAIMON, Masahiko; (JP)
Mandataire : SHIGA, Masatake; 2-3-1, Yaesu, Chuo-ku Tokyo 1048453 (JP)
Données relatives à la priorité :
2005-120177 18.04.2005 JP
Titre (EN) REFRACTIVITY MEASURING INSTRUMENT, REFRACTIVITY MEASURING DEVICE, AND REFRACTIVITY MEASURING METHOD
(FR) INSTRUMENT, DISPOSITIF ET PROCEDE DE MESURE DE LA REFRINGENCE
(JA) 屈折率測定用具、屈折率測定装置及び屈折率測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A refractivity measuring instrument includes a container (S0) for containing a sample, an external incident plane (S1) to which light (L) comes from outside, an internal emission plane (S2) for emitting the light (L) coming from the external incident plane (S1) to the container (S0), an internal incident plane (S3) to which the light (L) emitted from the internal emission plane (S2) comes via the container (S0), and an external emission plane (S4) for emitting outside the light (L) coming from the internal incident plane (S3). At least one of the following relationships is satisfied: the relationship that the external incident plane (S1) is not parallel to the internal emission plane (S2), and the relationship that the internal incident plane (S3) is not parallel to the external emission plane (S4).
(FR)L’invention concerne un instrument de mesure de la réfringence qui inclut un récipient (S0) pour contenir un échantillon, un plan incident externe (S1) sur lequel une lumière (L) arrive de l’extérieur, un plan d’émission interne (S2) pour émettre la lumière (L) provenant du plan incident externe (S1) en direction du récipient (S0), un plan incident interne (S3) sur lequel la lumière (L) émise à partir du plan d'émission interne (S2) arrive en passant par le récipient (S0), et un plan d'émission externe (S4) pour émettre vers l'extérieur la lumière (L) provenant du plan incident interne (S3). Au moins une des relations suivantes est satisfaite : la relation dans laquelle le plan incident externe (S1) n’est pas parallèle au plan d’émission interne (S2) ; et la relation dans laquelle le plan incident interne (S3) n’est pas parallèle au plan d’émission externe (S4).
(JA) 屈折率測定用具は、試料を収容する収容部(S0)と、外部から光)L)が入射する外側入射面(S1)と、外側入射面(S1)から入射した光(L)を収容部(S0)に出射する内側出射面(S2)と、内側出射面(S2)から出射して収容部(S0)を通過した光(L)が入射する内側入射面(S3)と、内側入射面(S3)から入射した光(L)を外部に出射する外側出射面(S4)とを有する。外側入射面(S1)と内側出射面(S2)とが互いに非平行の関係と、内側入射面(S3)と外側出射面(S4)とが互いに非平行の関係との少なくとも一方を満足する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)