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1. (WO2006114722) DETECTEUR DE RAYONS X NUMERIQUE PLAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/114722    N° de la demande internationale :    PCT/IB2006/051161
Date de publication : 02.11.2006 Date de dépôt international : 13.04.2006
CIB :
G01T 1/29 (2006.01)
Déposants : KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. [NL/NL]; Groenewoudseweg 1, NL-5621 BA Eindhoven (NL) (Tous Sauf US).
ALVING, Lex [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
HARBERTS, Dirk, W. [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
STOUTEN, Hans [NL/NL]; (NL) (US Seulement).
WORM, Stephanus, B. [NL/NL]; (NL) (US Seulement)
Inventeurs : ALVING, Lex; (NL).
HARBERTS, Dirk, W.; (NL).
STOUTEN, Hans; (NL).
WORM, Stephanus, B.; (NL)
Mandataire : SCHOUTEN, Marcus, M.; Prof. Holstlaan 6, NL-5656 AA Eindhoven (NL)
Données relatives à la priorité :
05103413.0 27.04.2005 EP
Titre (EN) DIGITAL FLAT X-RAY DETECTOR
(FR) DETECTEUR DE RAYONS X NUMERIQUE PLAT
Abrégé : front page image
(EN)In a flat X-ray detector, Electromagnetic Interference (EMI) is reduced by either opening a pickup loop between the common lines (28) and the reference plane (29) of the PCB, or by reducing the size of a pickup loop by providing a permanent connection (33) between the common supply line and the reference plane (29) in respect of each row of photoconductors (12).
(FR)L'invention concerne un détecteur de rayons X plat dans lequel l'interférence électromagnétique (EMI) est réduite par ouverture d'une boucle de détection entre les lignes communes (28) et le plan de référence (29) du PCB, soit par réduction de la dimension d'une boucle de détection consistant à mettre en place une connexion permanente (33) entre la ligne d'alimentation commune et le plan de référence (29) par rapport à chaque rangée de photoconducteurs (12).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)