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1. WO2006104918 - PROCEDE DE FORMATION D'UNE DIODE PLANE AU MOYEN D'UN MASQUE

Numéro de publication WO/2006/104918
Date de publication 05.10.2006
N° de la demande internationale PCT/US2006/010861
Date du dépôt international 24.03.2006
CIB
H01L 29/74 2006.01
HÉLECTRICITÉ
01ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
LDISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
29Dispositifs à semi-conducteurs spécialement adaptés au redressement, à l'amplification, à la génération d'oscillations ou à la commutation et ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface; Condensateurs ou résistances ayant au moins une barrière de potentiel ou une barrière de surface, p.ex. jonction PN, région d'appauvrissement, ou région de concentration de porteurs de charges; Détails des corps semi-conducteurs ou de leurs électrodes
66Types de dispositifs semi-conducteurs
68commandables par le seul courant électrique fourni ou par la seule tension appliquée, à une électrode qui ne transporte pas le courant à redresser, amplifier ou commuter
70Dispositifs bipolaires
74Dispositifs du type thyristor, p.ex. avec un fonctionnement par régénération à quatre zones
CPC
H01L 21/22
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
21Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
04the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
18the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
22Diffusion of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, into or out of a semiconductor body, or between semiconductor regions; ; Interactions between two or more impurities; Redistribution of impurities
H01L 23/3171
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
23Details of semiconductor or other solid state devices
28Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, ; e.g. for protection
31characterised by the arrangement ; or shape
3157Partial encapsulation or coating
3171the coating being directly applied to the semiconductor body, e.g. passivation layer
H01L 29/167
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
29Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof; ; Multistep manufacturing processes therefor
02Semiconductor bodies ; ; Multistep manufacturing processes therefor
12characterised by the materials of which they are formed
16including, apart from doping materials or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic System
167further characterised by the doping material
H01L 29/66128
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
29Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof; ; Multistep manufacturing processes therefor
66Types of semiconductor device ; ; Multistep manufacturing processes therefor
66007Multistep manufacturing processes
66075of devices having semiconductor bodies comprising group 14 or group 13/15 materials
66083the devices being controllable only by variation of the electric current supplied or the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched, e.g. two-terminal devices
6609Diodes
66128Planar diodes
H01L 29/8611
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
29Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof; ; Multistep manufacturing processes therefor
66Types of semiconductor device ; ; Multistep manufacturing processes therefor
86controllable only by variation of the electric current supplied, or only the electric potential applied, to one or more of the electrodes carrying the current to be rectified, amplified, oscillated or switched
861Diodes
8611Planar PN junction diodes
H01L 2924/0002
HELECTRICITY
01BASIC ELECTRIC ELEMENTS
LSEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
2924Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
0001Technical content checked by a classifier
0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
Déposants
  • VISHAY GENERAL SEMICONDUCTOR LLC [US]/[US] (AllExceptUS)
  • WANG, Benson [--]/[--] (UsOnly)
  • LU, Kevin [--]/[--] (UsOnly)
  • CHIANG, Warren [--]/[--] (UsOnly)
  • CHEN, Max [--]/[--] (UsOnly)
Inventeurs
  • WANG, Benson
  • LU, Kevin
  • CHIANG, Warren
  • CHEN, Max
Mandataires
  • MAYER, Stuart, H.
Données relatives à la priorité
11/090,70825.03.2005US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) PROCESS FOR FORMING A PLANAR DIODE USING ONE MASK
(FR) PROCEDE DE FORMATION D'UNE DIODE PLANE AU MOYEN D'UN MASQUE
Abrégé
(EN)
A planar diode and method of making the same employing only one mask. The diode is formed by coating a substrate with an oxide, removing a central portion of the oxide to define a window through which dopants are diffused. The substrate is given a Ni/Au plating to provide ohmic contact surfaces, and the oxide on the periphery of the window is coated with a polyimide passivating agent overlying the P/N junction.
(FR)
Diode plane et son procédé de fabrication à l'aide d'un seul masque. Cette diode est formée par enduction d'un substrat d'un oxyde, par enlèvement d'une partie centrale de l'oxyde pour définir une fenêtre par laquelle des dopants sont diffusés. Le substrat subit ensuite un placage de Ni/Au afin que des surfaces de contact ohmique soient produites, et l'oxyde se trouvant sur la périphérie de la fenêtre est enduit d'un agent de passivation au polyimide recouvrant la jonction PN.
Également publié en tant que
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