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1. (WO2006054962) SYSTEMES ET PROCEDE D'EXAMEN DE REVETEMENTS, DE SURFACES ET D'INTERFACES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/054962    N° de la demande internationale :    PCT/US2004/037622
Date de publication : 26.05.2006 Date de dépôt international : 12.11.2004
CIB :
G01N 21/88 (2006.01)
Déposants : TOYOTA MOTOR MANUFACTURING, NORTH AMERICA INC [US/US]; 25 Atlantic Avenue, Erlanger, KY 41018 (US) (AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BJ, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GW, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IS, IT, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MC, MD, MG, MK, ML, MN, MR, MW, MX, MZ, NA, NE, NI, NL, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SN, SY, SZ, TD, TG, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW only).
SAITO, Kozo [JP/US]; (US) (US Seulement).
HASSAN ALI, Mohammed, I. [EG/US]; (US) (US Seulement).
NUMASATO, Akira [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
OMAR, Mohammed, A. [JO/US]; (US) (US Seulement).
SAKAKIBARA, Masahito [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SUZUKI, Toshikazu [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TANIGAWA, Yasuo [JP/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SAITO, Kozo; (US).
HASSAN ALI, Mohammed, I.; (US).
NUMASATO, Akira; (JP).
OMAR, Mohammed, A.; (US).
SAKAKIBARA, Masahito; (JP).
SUZUKI, Toshikazu; (JP).
TANIGAWA, Yasuo; (US)
Mandataire : HARMEYER, John, V.; Dinsmore & Shohl LLP, 1900 Chemed Center, 255 E. fifth Street, Cincinnati, OH 45202 (US)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR INSPECTING COATINGS, SURFACES AND INTERFACES
(FR) SYSTEMES ET PROCEDE D'EXAMEN DE REVETEMENTS, DE SURFACES ET D'INTERFACES
Abrégé : front page image
(EN)A system for detecting defects in paint coatings includes a temperature manipulation apparatus (20) configured to change the temperature of a surface and a coating applied to the surface. The system may further include an infrared sensor (30) for measuring the change in temperature (over time) of the surface and coating and a processor (40) to compare the measured change in temperature of the surface and coating to an expected change of temperature (over time) in order to determine anomalies in the coatings. A self-referencing method of determining defects is also disclosed, wherein surrounding pixels are utilized as a reference in the detection process for calculating the change in temperature of each pixel. In addition, application of the inventive aspects to inspection of adhesion interfaces is also disclosed.
(FR)La présente invention se rapporte à un système permettant de détecter des défauts dans des revêtements de peinture, qui comprend un appareil de manipulation de température adapté pour faire varier la température d'une surface et d'un revêtement appliqué sur la surface. Le système comprend également un capteur infrarouge, destiné à mesurer la variation de température (dans le temps) de la surface et du revêtement, et un processeur conçu pour comparer la variation de température mesurée de la surface et du revêtement à une variation de température escomptée (dans le temps) afin de déterminer des anomalies dans les revêtements. L'invention concerne également un procédé autoréférent permettant de déterminer des défauts, selon lequel des pixels environnants servent de références dans le processus de détection pour calculer la variation de température de chaque pixel. En outre, l'invention a trait à l'application des aspects susmentionnés à l'examen d'interfaces d'adhérence.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)