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1. (WO2006054425) INSTRUMENT DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS, PROCÉDÉ DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS ET PROGRAMME DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/054425    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/019511
Date de publication : 26.05.2006 Date de dépôt international : 24.10.2005
CIB :
G01B 11/25 (2006.01), G06T 1/00 (2006.01)
Déposants : SCHOOL JURIDICAL PERSON OF FUKUOKA KOGYO DAIGAKU [JP/JP]; 30-1, Wajirohigashi 3-chome, Higashi-ku, Fukuoka-shi Fukuoka 8110295 (JP) (Tous Sauf US).
LU, Cunwei [CN/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : LU, Cunwei; (JP)
Mandataire : KATO, Hisashi; Room 1102, Asaco-Hakata Bldg. 11-5, Hakataekihiga shi 1-chome Hakata-ku, Fukuoka-shi Fukuoka 8120013 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-336554 19.11.2004 JP
Titre (EN) THREE-DIMENSIONAL MEASURING INSTRUMENT, THREE-DIMENSIONAL MEASURING METHOD, AND THREE-DIMENSIONAL MEASURING PROGRAM
(FR) INSTRUMENT DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS, PROCÉDÉ DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS ET PROGRAMME DE MESURE EN TROIS DIMENSIONS
(JA) 三次元計測装置および三次元計測方法並びに三次元計測プログラム
Abrégé : front page image
(EN)A three-dimensional measuring instrument, method, and program for acquiring much of pattern light information by a single projection and high-precision three-dimensional information at high speed. The three-dimensional measuring instrument comprises a pattern projector (1) serving as projecting means for projecting a pattern light toward a measurement object (A), a camera (2) serving as imaging means for capturing an image of the measurement object (A) toward which the pattern light is projected, and a computer (3) for processing data on the image captured by the camera (2). The computer (3) computes the angle of direction of each of the individual pattern lights constituting the projected pattern light from the value of the intensity of the projected pattern light detected from the captured image, divides the intensity distribution, and computes the depth distance from the phase value at each measuring point of the divided pattern. Thus, high-precision three-dimensional information is acquired.
(FR)L’invention concerne un instrument, un procédé et un programme de mesure en trois dimensions permettant d’acquérir une grande partie des informations de lumière de motif par une simple projection et des informations en trois dimensions de grande précision à grande vitesse. L’instrument de mesure en trois dimensions comprend un projecteur de motif (1) servant de moyen de projection permettant de projeter une lumière de motif vers un objet de mesure (A), une caméra (2) servant de moyen d’imagerie permettant de capturer une image de l’objet de mesure (A) vers lequel la lumière de motif est projetée, et un ordinateur (3) permettant de traiter des données sur l’image capturée par la caméra (2). L’ordinateur (3) calcule l’angle de direction de chacune des lumières de motif individuelles constituant la lumière de motif projetée à partir de la valeur de l’intensité de la lumière de motif projetée détectée à partir de l’image capturée, divise la répartition d‘intensité et calcule la distance en profondeur à partir de la valeur de phase à chaque point de mesure du motif divisé. On peut ainsi acquérir des informations en trois dimensions de grande précision.
(JA) 一回の投影で多くのパターン光情報を得ることができ、高速かつ高精度の三次元情報を得ることができる三次元計測装置および三次元計測方法ならびに三次元計測プログラムを提供する。本発明の三次元計測装置は、計測対象物Aにパターン光を投影する投影手段としてのパターン投影機(1)と、パターン光が投影された計測対象物(A)を撮像して画像を撮像する撮像手段としてのカメラ(2)と、このカメラ(2)により撮像した画像のデータを処理するコンピュータ(3)とから構成される。コンピュータ(3)により、撮像された画像から検出された投影パターン光の強度値から投影パターン光を形成している個別パターン光の方向角が算出されるとともに強度分布が分割され、分割されたパターンの各計測点における位相値から奥行き距離が算出されるので、精度の高い三次元情報を得ることができる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)