WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2006053447) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER DES SURFACES COURBES EN TROIS DIMENSIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/053447    N° de la demande internationale :    PCT/CH2004/000694
Date de publication : 26.05.2006 Date de dépôt international : 18.11.2004
CIB :
G01B 7/28 (2006.01)
Déposants : REISHAUER AG [CH/CH]; Industriestrasse 36, CH-8304 Wallisellen (CH) (Tous Sauf US).
WIRZ, Walter [CH/CH]; (CH) (US Seulement)
Inventeurs : WIRZ, Walter; (CH)
Mandataire : CLERC, Natalia; Isler & Pedrazzini AG, Gotthardstrasse 53, Postfach 6940, CH-8023 Zürich (CH)
Données relatives à la priorité :
Titre (DE) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR VERMESSUNG DREIDIMENSIONAL GEKRÜMMTER FLÄCHEN
(EN) METHOD AND DEVICE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL CURVED SURFACES
(FR) PROCEDE ET DISPOSITIF POUR MESURER DES SURFACES COURBES EN TROIS DIMENSIONS
Abrégé : front page image
(DE)In einem Verfahren und einer Vorrichtung zur Messung der Form- und Lageabweichungen dreidimensional gekrümmter Flächen werden in einer Vielzahl matrixähnlich über der Messfläche verteilter Messpunkte (20) die Abstände zwischen der Messfläche (4, 5) und den an jedem Messpunkt auf einem Sensorkopf (2) angeordneten Abstandssensoren (8) in einem einzigen Messlauf ermittelt. Die Sensoren sind über einen Multiplexer mit einem Oszillator und Messverstärker verbunden. Die Messresultate werden gespeichert und grafisch dargestellt. Überschreiten die gemessenen Form- und Lageabweichungen (9) die vorgegebene Toleranz, so wird dies durch ein Signal angezeigt. Das Verfahren eignet sich zur kontinuierlichen Überwachung formgebender Bearbeitungsprozesse.
(EN)The invention relates to a method and a device, for the measurement of the shape and positional variations of three-dimensional curved surfaces, whereby the separations between the measuring surfaces (4, 5) and separation sensors (8), arranged on a sensor head (2) at each measuring point of a number of measuring points (20), distributed over the measuring surfaces, are determined in a single measuring run. The sensors are connected to an oscillator and measuring amplifier by means of a multiplexer. The measurement results are stored and represented graphically. When the measured shape and positional variations (9) exceed the quoted tolerance a signal for the same is displayed. The method is suitable for the continuous monitoring of shaping machining processes.
(FR)L'invention concerne un procédé et un dispositif pour mesurer les écarts de forme et de position de surfaces courbes en trois dimensions. Selon la présente invention, les distances entre les surfaces de mesure (4, 5) et les capteurs de distance (8), placés sur une tête de détection (2) en chaque point de mesure, sont déterminées en une seule opération de mesure en une pluralité de points de mesure (20) répartis sur la surface de mesure sous la forme d'une matrice. Les capteurs sont reliés à un oscillateur et à un amplificateur de mesure par le biais d'un multiplexeur. Les résultats de mesure sont mémorisés et représentés graphiquement. Si les écarts de forme et de position mesurés (9) excèdent le seuil de tolérance prescrit, un signal est alors déclenché. Ledit procédé convient à la surveillance en continu de processus d'usinage/façonnage.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)