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1. (WO2006052829) PROCEDE ET SYSTEME DE MEMOIRE A TOLERANCE DE PANNES, DYNAMIQUEMENT EVOLUTIF, ADMETTANT DES MEMOIRES DE DIVERSES CAPACITES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/052829    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/040174
Date de publication : 18.05.2006 Date de dépôt international : 04.11.2005
CIB :
G06F 11/10 (2006.01)
Déposants : TRUSTED DATA CORPORATION [US/US]; 1881-a Landings Drive, Mountain View, CA 94043-0848 (US) (Tous Sauf US).
BARRALL, Geoffrey [GB/US]; (US) (US Seulement).
TERRY, Julian [GB/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : BARRALL, Geoffrey; (US).
TERRY, Julian; (US)
Mandataire : SUNSTEIN, Bruce; Bromberg & Sunstein LLP, 125 Summer Street, Boston, MA 02110-1618 (US)
Données relatives à la priorité :
60/625,495 05.11.2004 US
60/718,768 20.09.2005 US
Titre (EN) DYNAMICALLY UPGRADEABLE FAULT-TOLERANT STORAGE SYSTEM PERMITTING VARIOUSLY SIZED STORAGE DEVICES AND METHOD
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DE MEMOIRE A TOLERANCE DE PANNES, DYNAMIQUEMENT EVOLUTIF, ADMETTANT DES MEMOIRES DE DIVERSES CAPACITES
Abrégé : front page image
(EN)A dynamically upgradeable fault-tolerant storage system permits a storage device to be replaced with a larger storage device. Data stored redundantly across multiple storage devices is reproduced on the replacement device, and the additional storage space on the replacement device is made available for redundantly storing additional data.
(FR)La présente invention concerne un système de mémoire à tolérance de pannes et dynamiquement évolutif, qui permet de remplacer une mémoire par une autre de plus grande capacité. Les données enregistrées en redondance dans plusieurs mémoires sont recopiées sur la nouvelle mémoire, la place restant libre sur la nouvelle mémoire étant disponible pour l'enregistrement en redondance de nouvelles données.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)