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1. (WO2006052429) SYSTEME D'EVALUATION DE SEUILS D'ATTRIBUTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/052429    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/038127
Date de publication : 18.05.2006 Date de dépôt international : 21.10.2005
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    01.09.2006    
CIB :
G06T 5/40 (2006.01)
Déposants : ROCKWELL AUTOMATION TECHNOLOGIES, INC. [US/US]; 1 Allen-Bradley Drive, Mayfield Hts., OH 44124 (US) (Tous Sauf US).
GOOD, John M. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : GOOD, John M.; (US)
Mandataire : AMIN, Himanshu S.; Amin & Turocy, LLP, 1900 E. 9th Street, 24th Floor, National City Center, Cleveland, OH 44114 (US)
Données relatives à la priorité :
60/624,909 04.11.2004 US
11/211,332 25.08.2005 US
Titre (EN) ATTRIBUTE THRESHOLD EVALUATION SCHEME
(FR) SYSTEME D'EVALUATION DE SEUILS D'ATTRIBUTS
Abrégé : front page image
(EN)A system and methodology to evaluate an image of an object (104) based upon multiple attribute threshold values is provided (106). In accordance with the invention, if an attribute reading from a sensor (102) is between pre-defined threshold values (108, 110), the sensor reading can be deemed acceptable. High and low thresholds can be provided to allow a user to set an acceptable range. These high and low thresholds can be applied to inspection tools (e.g., brightness sensors). For clarification, the high and low thresholds can be applied to an measurable attribute.
(FR)Système et procédé permettant d'évaluer une image d'objet à partir de valeurs de seuils d'attributs multiples. Selon cette invention, si une valeur d'attribut détectée se situe entre des valeurs de seuil prédéfinies, cette valeur peut être considérée comme acceptable. Des seuils hauts et bas peuvent être définis pour que l'utilisateur puisse fixer une plage acceptable. Ces seuils hauts et bas peuvent être appliqués à des outils de vérification (tels que des détecteurs de luminosité). Le seuils hauts et bas conviennent pour n'importe quel attribut mesurable.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)