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1. (WO2006050288) ESSAI BON MARCHE POUR MODULES DE CI OU MODULES ELECTRIQUES UTILISANT DES DISPOSITIFS LOGIQUES STANDARD RECONFIGURABLES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/050288    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/039319
Date de publication : 11.05.2006 Date de dépôt international : 27.10.2005
CIB :
G01R 31/3183 (2006.01)
Déposants : INTEL CORPORATION [US/US]; 2200 Mission College Boulevard, Santa Clara, CA 95052 (US) (Tous Sauf US).
STURGES, Stephen [US/US]; (US) (US Seulement).
INMAN, Brad [US/US]; (US) (US Seulement).
HASH, Robert [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : STURGES, Stephen; (US).
INMAN, Brad; (US).
HASH, Robert; (US)
Mandataire : VINCENT, Lester J.; BLAKELY SOKOLOFF TAYLOR & ZAFMAN, 12400 Wilshire Boulevard, 7th Floor, Los Angeles, CA 950025 (US)
Données relatives à la priorité :
10/975,855 28.10.2004 US
Titre (EN) LOW COST TEST FOR IC'S OR ELECTRICAL MODULES USING STANDARD RECONFIGURABLE LOGIC DEVICES
(FR) ESSAI BON MARCHE POUR MODULES DE CI OU MODULES ELECTRIQUES UTILISANT DES DISPOSITIFS LOGIQUES STANDARD RECONFIGURABLES
Abrégé : front page image
(EN)Low cost test for Integrated Circuits or electrical modules using a reconfigurable logic device is described. In one embodiment, the invention includes configuring a reconfigurable logic device to comply with input standards of a device under test, applying test signals to the device under test, detecting output results of the device under test, and analyzing the detected output results.
(FR)L'invention concerne un essai bon marché destiné à des modules de circuits intégrés ou à des modules électriques utilisant un dispositif logique reconfigurable. Dans un mode de réalisation, le procédé de l'invention consiste à configurer un dispositif logique reconfigurable pour le rendre conforme à des normes d'entrée d'un dispositif soumis à essai. Le procédé consiste ensuite à: appliquer des signaux d'essai au dispositif soumis à essai; détecter des résultats de sortie du dispositif; et analyser les résultats de sortie détectés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)