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1. (WO2006050169) MESURE DE PARAMETRES ENVIRONNEMENTAUX
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/050169    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/039094
Date de publication : 11.05.2006 Date de dépôt international : 27.10.2005
CIB :
G01K 11/12 (2006.01)
Déposants : SPECTRASENSORS, INC. [US/US]; 972 North Amelia Avenue, San Dimas, CA 91773 (US) (Tous Sauf US).
MAY, Randy, Dean [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : MAY, Randy, Dean; (US)
Mandataire : KUKKONEN, Carl, A., III; 12390 El Camino Real, San Diego, CA 92130 (US)
Données relatives à la priorité :
60/522,696 28.10.2004 US
Titre (EN) MEASURING ENVIRONMENTAL PARAMETERS
(FR) MESURE DE PARAMETRES ENVIRONNEMENTAUX
Abrégé : front page image
(EN)Intensity measurements characterizing at least two absorption lines for a molecule of interest within at least one sample of gas may be used to calculate at least one ratio which may be associated with a level of an environmental parameter of interest (e.g. temperature). Related apparatuses, techniques, systems, computer program products are also described. The intensity measurements take place from an exterior surface of a mobile platform (e. g. an aircraft).
(FR)L'invention concerne des mesures d'intensité caractérisant au moins deux lignes d'absorption pour une molécule d'intérêt à l'intérieur d'au moins un échantillon de gaz, ces mesures pouvant être utilisées pour calculer au moins un rapport, lequel peut être associé à un niveau d'un paramètre environnemental d'intérêt. L'invention concerne également des appareils, des techniques, des systèmes et des produits-programmes informatiques associés.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)