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1. (WO2006049353) PROCEDE ET SYSTEME D'ESSAI D'UN DISPOSITIF ELECTRIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/049353    N° de la demande internationale :    PCT/KR2004/002776
Date de publication : 11.05.2006 Date de dépôt international : 01.11.2004
CIB :
G06F 11/22 (2006.01)
Déposants : SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; 416, Maetan-Dong, Yeongtong-Gu, Suwon-Si, Gyeonggi-Do 442-742 (KR) (Tous Sauf US).
GU, Hyun Sung [KR/KR]; (KR) (US Seulement)
Inventeurs : GU, Hyun Sung; (KR)
Mandataire : SEO, Bong Seok; 9th, Seolim Bldg., 649-10 Youksam-Dong, Gangnam-Gu, Seoul 135-080 (KR)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) THE TEST SYSTEM AND METHOD OF THE ELECTRIC DEVICE
(FR) PROCEDE ET SYSTEME D'ESSAI D'UN DISPOSITIF ELECTRIQUE
Abrégé : front page image
(EN)A test system and test method for testing an electromagnetic device are disclosed. The test system and test method are capable of reducing the test time and enhancing the test reliability when testing the electromagnetic device. The present invention receives audio signals outputted from the electromagnetic device as a target to be tested and obtains a root mean square (RMS) value of the audio signals, and compares the RMS value with the predetermined reference value to determine the state of the electromagnetic device. Also, the present invention receives audio signals outputted from the electromagnetic device as a target to be tested, processes the audio signals by Fourier transform, and compares the Fourier transform result with a predetermined reference value to determine the state of the electromagnetic device. Moreover, the present invention receives video signals from the electromagnetic device to be tested, detects synchronous signals of the video signals and compares the synchronous signals with a predetermined reference synchronous signal to determine the state of the electromagnetic device.
(FR)La présente invention concerne un système d'essai et un procédé d'essai permettant de tester un dispositif électromagnétique. Le système d'essai et le procédé d'essai permettent de réduire la durée de l'essai et d'améliorer la fiabilité de l'essai lors du test du dispositif électromagnétique. Le procédé décrit dans cette invention consiste à recevoir des signaux audio provenant du dispositif électromagnétique lesquels constituent la cible à tester; puis à obtenir une moyenne quadratique (RMS) des signaux audio; puis à comparer la valeur de la moyenne quadratique avec la valeur de référence prédéterminée afin de déterminer l'état du dispositif électromagnétique. En outre, le procédé consiste à recevoir des signaux audio provenant du dispositif électromagnétique qui constituent la cible à tester; à traiter ces signaux audio par transformée de Fourier; puis à comparer le résultat de la transformée de Fourier avec une valeur de référence prédéterminée afin de déterminer l'état du dispositif électromagnétique. D'autre part, le procédé consiste à recevoir des signaux vidéo provenant du dispositif électromagnétique devant être testés; à détecter les signaux synchrones des signaux vidéo; puis à comparer les signaux synchrones avec un signal synchrone de référence prédéterminé afin de déterminer l'état du dispositif électromagnétique.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : coréen (KO)