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1. (WO2006049180) INSTRUMENT ET PROCEDE DE MESURE D'EMISSION
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/049180    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/020130
Date de publication : 11.05.2006 Date de dépôt international : 01.11.2005
CIB :
G01N 21/64 (2006.01), G02B 21/00 (2006.01)
Déposants : OLYMPUS CORPORATION [JP/JP]; 43-2, Hatagaya 2-chome, Shibuya-ku, Tokyo 1510072 (JP) (Tous Sauf US).
SAWADA, Ryuji [JP/JP]; (US Seulement).
NAKASHIMA, Yoshio [JP/JP]; (US Seulement)
Inventeurs : SAWADA, Ryuji; .
NAKASHIMA, Yoshio;
Mandataire : SUZUYE, Takehiko; c/o SUZUYE & SUZUYE 1-12-9, Toranomon Minato-ku, Tokyo 105-0001 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-318351 01.11.2004 JP
Titre (EN) EMISSION MEASURING INSTRUMENT AND EMISSION MEASURING METHOD
(FR) INSTRUMENT ET PROCEDE DE MESURE D'EMISSION
(JA) 発光測定装置及び発光測定方法
Abrégé : front page image
(EN)A light fluctuation measuring instrument comprises a parameter setting section (2) for setting a parameter of a microscope image acquiring unit and/or a parameter of an emission measuring unit used for observing emission from a desired region of a sample in time series, a parameter storage section (4) for storing the parameters, a mode selecting section (3) for selecting a microscope image acquiring mode of acquiring a microscope image by means of the microscope image acquiring unit or an emission measuring mode of observing the emission form the desired region by means of the emission measuring unit, and a control section (1) for reading the parameter stored in the parameter storage section (4) according to the selected mode and inputting the parameter into the microscope image acquiring unit or the emission measuring unit to perform control.
(FR)L'invention concerne un instrument de mesure de fluctuation de la lumière qui comprend une section d'établissement de paramètre (2) destinée à établir un paramètre d'unité d'acquisition d'image par microscope et/ou un paramètre d'unité de mesure d'émission, utilisées pour observer l'émission provenant d'une région souhaitée d'un échantillon en série dans le temps, une section de mémorisation de paramètres (4) destinée à mémoriser les paramètres, une section de sélection de mode (3) destinée à sélectionner un mode d'acquisition d'image par microscope consistant à obtenir une image par microscope au moyen de l'unité d'acquisition d'image par microscope ou un mode de mesure d'émission consistant à observer la forme de l'émission de la région souhaitée au moyen de l'unité de mesure d'émission, ainsi qu'une section de commande (1) destinée à lire le paramètre mémorisé dans la section de mémorisation de paramètres (4) en fonction du mode sélectionné et à appliquer en entrée le paramètre dans l'unité d'acquisition d'image par microscope ou dans l'unité de mesure d'émission afin d'effectuer une commande.
(JA) 光ゆらぎ測定装置であって、顕微鏡像取得ユニットのパラメータおよび/または試料の所望の領域における発光を時系列的に観測するのに用いられる発光測定ユニットのパラメータを設定するパラメータ設定部2と、各パラメータを記憶するパラメータ記憶部4と、顕微鏡像取得ユニットにより顕微鏡像を取得する顕微鏡像取得モードと、発光測定ユニットにより所望の領域の発光を観測する発光測定モードと、のいずれか一方を選択するモード選択部3と、選択されたモードに基づいてパラメータ記憶部4に記憶されたパラメータを読み出し、該パラメータを顕微鏡像取得ユニットまたは発光測定ユニットに入力して制御する制御部1とを具備する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)