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1. (WO2006049120) PROCÉDÉ DE SIMULATION DE VIBRATIONS DE SONDE MICROSCOPIQUE À FORCE ATOMIQUE EN MODE DYNAMIQUE, PROGRAMME, SUPPORT D’ENREGISTREMENT, ET SIMULATEUR DE VIBRATIONS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/049120    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/019985
Date de publication : 11.05.2006 Date de dépôt international : 31.10.2005
CIB :
G01Q 10/00 (2010.01), G01Q 10/06 (2010.01), G01Q 40/00 (2010.01), G01Q 60/24 (2010.01), G01Q 60/32 (2010.01)
Déposants : JAPAN SCIENCE AND TECHNOLOGY AGENCY [JP/JP]; 4-1-8, Honcho, Kawaguchi-shi, Saitama 3320012 (JP) (Tous Sauf US).
SASAKI, Naruo [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
TAKAHASHI, Tadataka [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : SASAKI, Naruo; (JP).
TAKAHASHI, Tadataka; (JP)
Mandataire : HASHIZUME, Takeshi; 13-17, Ginza 3-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040061 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-321591 05.11.2004 JP
Titre (EN) DYNAMIC MODE ATOMIC FORCE MICROSCOPE PROBE VIBRATION SIMULATION METHOD, PROGRAM, RECORDING MEDIUM, AND VIBRATION SIMULATOR
(FR) PROCÉDÉ DE SIMULATION DE VIBRATIONS DE SONDE MICROSCOPIQUE À FORCE ATOMIQUE EN MODE DYNAMIQUE, PROGRAMME, SUPPORT D’ENREGISTREMENT, ET SIMULATEUR DE VIBRATIONS
(JA) 動的モード原子間力顕微鏡探針の振動シミュレーション方法、プログラム、記録媒体、振動シミュレータ
Abrégé : front page image
(EN)The vibration characteristic of a dynamic AFM probe is simulated. For a given operation parameter (for example, the displacement u0 of the probe, the spring constant k of the cantilever, or the radius of curvature of the probe R1), the plate-spring cantilever to which the probe is attached is vertically moved while being mechanically resonated, and the vibration characteristic of the probe of the dynamic mode atomic force microscope (AFM) for observing the structure of the sample surface is simulated. The vibration information on the probe in the steady state at each initial position u0 (displacement u - time &tgr;) (S103, S104) is recorded, and the movement of the probe is visualized by GUI on the basis of the recorded vibration information. An essential spectroscopy obtained by the AFM, for example the ampliture a - probe initial position u0 relation or the interaction force F - probe initial position u0 relation is determined and shown on a graph according to the approach/separation of the probe (cantilever) to/from the surface.
(FR)L’invention permet de simuler la caractéristique de vibrations d’une sonde AFM dynamique. Pour un paramètre d’exploitation donné (par exemple, le déplacement u0 de la sonde, la constante élastique k du porte-à-faux ou le rayon de courbure de la sonde R1), on déplace verticalement le porte-à-faux à ressort de plaque auquel la sonde est fixée, pendant qu’il résonne mécaniquement, et l’on simule la caractéristique de vibrations de la sonde du microscope à force atomique en mode dynamique (AFM) pour observer la structure de la surface échantillon. Les informations de vibrations sur la sonde à l’état stable à chaque position initiale u0 (déplacement u - temps &tgr;) (S103, S104) sont enregistrées et le mouvement de la sonde est visualisé par GUI sur la base des informations de vibrations enregistrées. Une spectroscopie essentielle obtenue par la sonde AFM, par exemple la relation entre l’amplitude a et la position initiale de sonde u0 ou bien la relation entre la force d’interaction F et la position initiale de sonde u0 est déterminée et illustrée sur un graphique selon l’approche ou la séparation de la sonde (porte-à-faux) par rapport à la surface.
(JA) 動的AFM探針の振動特性をシミュレートする。  任意の動作パラメータ(例えば、探針の変位u0、カンチレバーのバネ定数k、探針の曲率半径R1)に対して、探針が先端に取り付けられた板バネ状のカンチレバーを機械的に共振させながら上下動させて、試料表面の構造を観察する動的モード原子間力顕微鏡(AFM)探針の振動特性をシミュレートして、探針の初期位置u0毎の定常状態の振動情報を記録し(変位u-時刻τ)(S103、S104)、記録された振動情報に基づいてGUIで探針の運動を可視化する。一方、AFMで得られる主要なスペクトロスコピー、例えば、振幅a-探針初期位置u0関係や、相互作用力F-探針初期位置u0関係を求め、探針(カンチレバー)の表面への接近および引き離し運動に対応させてグラフ化する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)