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1. (WO2006045888) PROCEDE ET SYSTEME POUR DETERMINER LES PROPRIETES D'UNE SURFACE D'UN CYLINDRE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/045888    N° de la demande internationale :    PCT/FI2005/000464
Date de publication : 04.05.2006 Date de dépôt international : 27.10.2005
CIB :
G01C 11/06 (2006.01), G01B 11/00 (2006.01), G06T 7/60 (2006.01), G01N 21/00 (2006.01)
Déposants : OY MAPVISION LTD [FI/FI]; Tietäjäntie 10, FI-02130 Espoo (FI) (Tous Sauf US).
NIINI, Ilkka [FI/FI]; (FI) (US Seulement)
Inventeurs : NIINI, Ilkka; (FI)
Mandataire : PAPULA OY; P.O. Box 981, (Mechelininkatu 1 A), FI-00101 Helsinki (FI)
Données relatives à la priorité :
20041385 27.10.2004 FI
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR DETERMINING THE PROPERTIES OF A SURFACE OF REVOLUTION
(FR) PROCEDE ET SYSTEME POUR DETERMINER LES PROPRIETES D'UNE SURFACE D'UN CYLINDRE
Abrégé : front page image
(EN)The invention relates to a method and system for determining the direction and location of the symmetry axis of a revolution-shaped article. Furthermore, the invention enables one to determine the radius of the article as well as the pitch of a possible thread. In the arrangement of the invention, the article being measured is illuminated using light sources arranged in direct vicinity of the cameras . Each camera is measuring the reflection plane formed from the article being measured based on the light reflected backward from the article. The symmetry axis is determined by calculating the transversal of the reflection planes. The system of the invention uses at least two cameras, but the measurement accuracy can be improved by calculating the symmetry axis from the transversals of the reflection planes of a bigger set of cameras . Furthermore, at least a third camera is required to calculate the pitch of thread.
(FR)L'invention concerne un procédé et un système pour déterminer le sens et l'emplacement de l'axe de symétrie d'un article se présentant sous une forme cylindrique. L'invention permet de déterminer le rayon de l'article ainsi que l'inclinaison d'un filetage possible. Dans l'ensemble de l'invention, l'article à mesurer est éclairé au moyen de sources lumineuses disposées à proximité des caméras. Chaque caméra mesure le plan de réflexion formé par l'article à mesurer, sur la base de l'affichage arrière réfléchi par l'éclairage de l'article. L'axe de symétrie est déterminé par le calcul de la ligne transversale des plans de réflexion. Le système de l'invention comprend l'utilisation d'au moins deux caméras, mais la précision de la mesure peut être améliorée par le calcul de l'axe de symétrie des lignes transversales des plans de réflexion d'un plus grand ensemble de caméras.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KN, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : finnois (FI)