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1. (WO2006044466) PROCEDE DE FAÇONNAGE DE REBORDS TRANCHANTS
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/044466    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/036687
Date de publication : 27.04.2006 Date de dépôt international : 13.10.2005
CIB :
C09K 3/14 (2006.01), A61B 19/00 (2006.01), B24B 3/36 (2006.01), B24B 37/00 (2012.01)
Déposants : CABOT MICROELECTRONICS CORPORATION [US/US]; 870 North Commons Drive, Aurora, Illinois 60504 (US)
Inventeurs : SPIRO, Clifford; (US).
STEUER, George; (US).
KAUFMAN, Frank; (US)
Mandataire : WESEMAN, Steven; Legal Department Cabot Microelectronics Corporation 870 North Commons Drive Aurora, Illinois 60504 (US)
Données relatives à la priorité :
10/968,571 19.10.2004 US
Titre (EN) METHOD OF SHARPENING CUTTING EDGES
(FR) PROCEDE DE FAÇONNAGE DE REBORDS TRANCHANTS
Abrégé : front page image
(EN)The invention is directed to a method for polishing a cutting edge on a cutting instrument, comprising contacting a cutting edge of a cutting instrument with a polishing pad and a chemical-mechanical polishing composition comprising particles of an abrasive, and a liquid carrier, wherein the abrasive is suspended in the liquid carrier, and abrading at least a portion of the cutting edge to polish the cutting edge. The invention further provides a cutting instrument having a highly uniform edge.
(FR)L'invention porte sur un procédé de polissage d'un rebord tranchant sur un instrument tranchant, consistant à mettre en contact un rebord tranchant d'un instrument tranchant avec tampon à polir et une composition à polir chimio-mécanique contenant des particules d'un abrasif, et un support liquide, l'abrasif étant suspendu dans le support liquide, et à abraser au moins une partie du rebord tranchant afin de polir le rebord tranchant. Cette invention se rapporte aussi à un instrument tranchant présentant une rebord très uniforme.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)