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1. (WO2006042746) PROCEDE D'EXAMEN D'INTERACTIONS PHYSIQUES, CHIMIQUES ET BIOCHIMIQUES
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/042746    N° de la demande internationale :    PCT/EP2005/011218
Date de publication : 27.04.2006 Date de dépôt international : 19.10.2005
CIB :
G01N 21/45 (2006.01)
Déposants : UNIVERSITÄT TÜBINGEN [DE/DE]; Wilhelmstrasse 5, 72074 Tübingen (DE) (Tous Sauf US).
FRANK, Rüdiger [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
MÖHRLE, Bernd [DE/DE]; (DE) (US Seulement).
GAUGLITZ, Günter [DE/DE]; (DE) (US Seulement)
Inventeurs : FRANK, Rüdiger; (DE).
MÖHRLE, Bernd; (DE).
GAUGLITZ, Günter; (DE)
Mandataire : PATENTANWÄLTE RUFF, WILHELM, BEIER, DAUSTER & PARTNER; Kronenstrasse 30, 70174 Stuttgart (DE)
Données relatives à la priorité :
102004051098.9 19.10.2004 DE
102005015030.6 31.03.2005 DE
Titre (DE) VERFAHREN ZUR UNTERSUCHUNG PHYSIKALISCHER, CHEMISCHER UND BIOCHEMISCHER WECHSELWIRKUNGEN
(EN) METHOD FOR EXAMINING PHYSICAL, CHEMICAL AND BIOCHEMICAL INTERACTIONS
(FR) PROCEDE D'EXAMEN D'INTERACTIONS PHYSIQUES, CHIMIQUES ET BIOCHIMIQUES
Abrégé : front page image
(DE)Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur markierungsfreien Unter-suchung physikalischer, chemischer und/oder biochemischer Reaktionen, Bindungs- und Anlagerungsvorgängen oder sonstiger Wechselwirkungen in oder an einer dünnen Schicht. Bei diesem Verfahren wird die bekannte auf Reflexionsmessungen basierende Detektion von einem Spektrum, bestehend aus mehreren Wellenlängen, erfindungsgemäss auf die Detektion nur einer einzigen Wellenlänge reduziert. Die Messung der Änderung der Intensität des an der dünnen Schicht reflektierten Lichtanteils als Folge von stattgefunde-nen Wechselwirkungen in oder an der dünnen Schicht erfolgt dann bei einer für die Auswertung der Meßergebnisse optimalen Wellenlänge. Diese ent-spricht vorzugsweise einer Wellenlänge, bei der die Änderung der Lichtinten-sität nach einer erfolgten Reaktion oder Wechselwirkung an oder in der dün-nen Schicht am grössten ist. Die für die Messung optimale Wellenlänge hängt zum einen von den Eigenschaften der dünnen Schicht, insbesondere ihrer optischen Dicke, sowie den Eigenschaften des Trägers, auf dem die dünne Schicht angeordnet sein kann, ab. Zum anderen hängt die optimale Wellen-länge vom Einfallswinkel und der Polarisierung des auf die dünne Schicht einfallenden Lichtes ab. Die vorliegende Erfindung betrifft ferner eine Vorrich-tung zur Durchführung des beschriebenen Verfahrens.
(EN)The invention relates to a method for marker-free examination of physical, chemical and/or biochemical reactions, bonding and addition or other interactions in/or on a thin layer. According to said method the detection of a range consisting of several wavelengths, as carried out in a known manner, on the base of reflection measuring is reduced to the detection of one wavelength. The measurement of the intensity modification of a light fraction reflected on the thin layer taken place as a result of interactions in/or on the thin layer is carried out for one wavelength in order to evaluate the measurement results. Said wavelength preferably corresponds to a wavelength whose light intensity modification is maximum after a reaction or interaction carried out on the thin layer. The optimal measuring wavelength depends on the thin layer properties, in particular on the optical thickness thereof and the properties of a carrier to which said thin layer is applicable and on the angle of incidence and polarisation of incident light on the thin layer. A device for carrying out said method is also disclosed.
(FR)L'invention concerne un procédé d'examen, exempt de marquage, de réactions physiques, chimiques et/ou biochimiques, de processus de liaison et de fixation par addition ou d'autres interactions dans/ ou sur une couche mince. Dans ce procédé, la détection d'un spectre formé de plusieurs longueurs d'ondes, telle que pratiquée de manière connue, sur la base de mesures de réflexion, se réduit, conformément à l'invention, à la détection d'une seule longueur d'onde. La mesure de la variation d'intensité de la fraction lumineuse réfléchie sur la couche mince, en conséquence des interactions intervenant dans/ ou sur la couche mince, s'effectue alors pour une longueur d'onde optimale pour l'évaluation des résultats de mesure. Cette longueur d'onde correspond de préférence à une longueur d'onde pour laquelle la variation de l'intensité lumineuse est maximale après une réaction ou une interaction effectuée sur/ ou dans la couche mince. La longueur d'onde optimale pour la mesure dépend, d'une part, des propriétés de la couche mince, en particulier, de son épaisseur optique, ainsi que des propriétés du support sur lequel la couche mince peut être appliquée et, d'autre part, de l'angle d'incidence et de la polarisation de la lumière incidente sur la couche mince. L'invention concerne en outre un dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : allemand (DE)
Langue de dépôt : allemand (DE)