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1. (WO2006041730) PROCEDE ET SYSTEME DE PROGRAMMATION D'UN DISPOSITIF ELECTRONIQUE NON VOLATILE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/041730    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/035296
Date de publication : 20.04.2006 Date de dépôt international : 30.09.2005
CIB :
G11C 16/06 (2006.01)
Déposants : ATMEL CORPORATION [US/US]; 2325 Orchard Parkway, San Jose, CA 95131 (US) (Tous Sauf US).
SURICO, Stefano [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
BARTOLI, Simone [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
TASSAN CASER, Fabio [IT/IT]; (IT) (US Seulement).
MARZIANI, Monica [IT/IT]; (IT) (US Seulement)
Inventeurs : SURICO, Stefano; (IT).
BARTOLI, Simone; (IT).
TASSAN CASER, Fabio; (IT).
MARZIANI, Monica; (IT)
Mandataire : SAWYER, Joseph, A., Jr.; Sawyer Law Group LLP, P.O. Box 51418, Palo Alto, CA 94303 (US)
Données relatives à la priorité :
MI2004A001904 07.10.2004 IT
11/128,939 12.05.2005 US
Titre (EN) METHOD AND SYSTEM FOR A PROGRAMMING APPROACH FOR A NONVOLATILE ELECTRONIC DEVICE
(FR) PROCEDE ET SYSTEME DE PROGRAMMATION D'UN DISPOSITIF ELECTRONIQUE NON VOLATILE
Abrégé : front page image
(EN)Aspects for programming a nonvolatile electronic device include performing an initial verify step of a programming algorithm with an initial type of reference voltage value, and performing one or more subsequent verify steps in the programming algorithm with a second type of reference voltage value. Further included is utilizing a read reference voltage for the initial verify step, wherein desired programming is ensured for a cell that falls out of ideal distribution.
(FR)L'invention concerne un procédé de programmation d'un dispositif électronique non volatile, comprenant une étape de vérification initiale d'un algorithme de programmation avec un type initial de valeur de tension de référence, et une ou plusieurs étapes de vérification ultérieures de l'algorithme de programmation avec un second type de valeur de tension de référence. Ledit procédé consiste également à utiliser une tension de référence de lecture pour l'étape de vérification initiale, une programmation désirée étant garantie pour une cellule n'étant pas conforme à une distribution idéale.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)