WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2006041567) BANC OPTIQUE POUR SYSTEME A SPECTROMETRE DE MASSE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/041567    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/029171
Date de publication : 20.04.2006 Date de dépôt international : 16.08.2005
CIB :
H01J 49/02 (2006.01), H01J 49/00 (2006.01), B01D 59/44 (2006.01)
Déposants : OI CORPORATION [US/US]; 151 Graham Road, P.o. Box 9010, College Station, Texas 77842-9010 (US) (Tous Sauf US).
SCHEIDEMANN, Adi, A. [DE/CH]; (CH) (US Seulement).
MCGRAW, Mark, S. [US/US]; (US) (US Seulement).
LONG, Clare, R. [US/US]; (US) (US Seulement).
KIBELKA, Gottfried, P., G. [DE/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : SCHEIDEMANN, Adi, A.; (CH).
MCGRAW, Mark, S.; (US).
LONG, Clare, R.; (US).
KIBELKA, Gottfried, P., G.; (US)
Mandataire : GRIEGER, John, C.; Seed Intellectual Property Law Group PLLC, 701 - Fifth Avenue, Suite 6300, Seattle, Washington 98104-7092 (US)
Données relatives à la priorité :
60/601,803 16.08.2004 US
60/601,810 16.08.2004 US
60/601,867 16.08.2004 US
Titre (EN) OPTICAL BENCH FOR A MASS SPECTROMETER SYSTEM
(FR) BANC OPTIQUE POUR SYSTEME A SPECTROMETRE DE MASSE
Abrégé : front page image
(EN)Mass spectrometer systems for measuring mass/charge ratios of analytes are described. A mass spectrometer system includes a vacuum flange, a PCB base plate coupled to the vacuum flange, and an ion optic assembly coupled to the PCB base plate. The PCB base plate may include signal-processing electronics. The system may include an electrical cable coupled to the PCB base plate for supplying power, control, and I/O to the ion optic assembly and the signal processing electronics. Alternatively, a mass spectrometer system includes a PCB base plate and an ion optic assembly. The PCB base plate has a sealant portion and an electrical portion. The ion optic assembly is coupled to the electrical portion. The system may include a vacuum housing for enclosing the ion optic assembly. The vacuum housing is coupled to the sealant portion of the PCB base plate for sustaining a vacuum while the system is in operation.
(FR)Cette invention concerne des systèmes à spectromètre de masse servant à mesurer des rapports masse/charge de mélanges à analyser. Un tel système à spectromètre comprend une bride sous vide, une plaque de base avec circuit imprimé couplée à la bride sous vide, et un ensemble optique à ions couplé à la plaque de base à circuit intégré. Ladite plaque de base peut comporter une électronique de traitement de signaux. Le système peut être assorti d'un câble électrique couplé à la plaque de base à circuit imprimé pour l'alimentation en courant, la commande et ou l'entrée/sortie du l'ensemble optique à ions et l'électronique de traitement de signaux. En variante, le système à spectromètre de masse de l'invention peut comporter une plaque de base à circuit imprimé et un ensemble optique à ions. La plaque de base à circuit imprimé comprend une partie d'étanchéité et une partie électrique. L'ensemble optique à ions est couplé à la partie électrique. Le système peut comporter un boîtier sous vide renfermant l'ensemble optique à ions. Ce boîtier sous vide, qui est couplé à la partie d'étanchéité de la plaque de base à circuit imprimé, maintient le vide pendant le fonctionnement du système.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)