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1. (WO2006039165) NOUVELLE OPTIMISATION POUR MODELE DE CIRCUIT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/039165    N° de la demande internationale :    PCT/US2005/033852
Date de publication : 13.04.2006 Date de dépôt international : 21.09.2005
CIB :
G06F 17/50 (2006.01)
Déposants : SABIO LABS, INC. [US/US]; 101 University Avenue, Suite 111, Palo Alto, CA 94301 (US) (Tous Sauf US).
HERSHENSON, Mar [ES/US]; (US) (US Seulement).
COLLERAN, David, M. [US/US]; (US) (US Seulement)
Inventeurs : HERSHENSON, Mar; (US).
COLLERAN, David, M.; (US)
Mandataire : VINCENT, Lester, J.; Blakely Sokoloff Taylor & Zafman LLP, 1279 Oakmead Parkway, Sunnyvale, CA 94085-4040 (US)
Données relatives à la priorité :
60/614,745 30.09.2004 US
11/021,278 22.12.2004 US
Titre (EN) NOVEL OPTIMIZATION FOR CIRCUIT DESIGN
(FR) NOUVELLE OPTIMISATION POUR MODELE DE CIRCUIT
Abrégé : front page image
(EN)Methods for optimizing design parameters of a circuit are disclosed. In one aspect, an optimization problem includes one or more performance specifications that represent an exponent of a design parameter to be optimized. Various parameters of passive and active circuit devices may be efficiently and accurately optimized as a result. In another aspect, linear performance specifications are included for accurately calculating voltages. In yet other aspects of the invention, three special types of convex optimization problems are disclosed for enabling the above use of exponents of design parameters which provide efficient and accurate calculations of a virtually unlimited array of circuit parameters and performance characteristics.
(FR)L'invention concerne des procédés permettant d'optimiser des paramètres d'étude d'un circuit. Dans un aspect, un problème d'optimisation comporte au moins une spécification d'efficacité qui représente un exposant d'un paramètre d'étude à optimiser. Divers paramètres de dispositifs à circuits passifs et actifs peuvent être optimisés, par conséquent, avec efficacité et précision. Dans un autre aspect, des spécifications d'efficacité linéaire sont comprises en vue d'un calcul précis des tensions. Dans des aspects différents, trois types spéciaux de problèmes d'optimisation convexe permettent l'emploi des exposants de paramètres d'étude qui fournissent des calculs efficaces et précis d'un réseau illimité virtuellement de paramètres de circuit et de caractéristiques d'efficacité.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)