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1. (WO2006038120) DISPOSITIF DE SECURITE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/038120    N° de la demande internationale :    PCT/IB2005/003223
Date de publication : 13.04.2006 Date de dépôt international : 29.09.2005
CIB :
B42D 15/00 (2006.01), G06K 19/16 (2006.01)
Déposants : CSEM CENTRE SUISSE D'ELECTRONIQUE ET DE MICROTECHNIQUE SA [CH/CH]; Jaquet-Droz 1, CH-2007 Neuchâtel (CH) (Tous Sauf US).
WALTER, Harald [DE/CH]; (CH) (US Seulement).
SCHNIEPER, Marc [CH/CH]; (CH) (US Seulement).
STUCK, Alexander [CH/CH]; (CH) (US Seulement)
Inventeurs : WALTER, Harald; (CH).
SCHNIEPER, Marc; (CH).
STUCK, Alexander; (CH)
Mandataire : ANDREWS, Arthur, Stanley; Reddie & Grose, 16 Theobalds Road, London WC1X 8PL (GB)
Données relatives à la priorité :
0422266.7 07.10.2004 GB
Titre (EN) SECURITY DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE SECURITE
Abrégé : front page image
(EN)A security device comprises first zero order diffractive microstructure (1) on a substrate, a second zero order diffractive microstructure (2), and an intermediate light transmissive layer (4) separating the two diffractive microstructures. The spacing (sn,n+1 ) between the first (1) and second (2) diffractive microstructures is small enough so that optical interferences are produced between the diffractive microstructures. A further light transmissive layer (3) covers the second diffractive microstructure (2).
(FR)L'invention concerne un dispositif de sécurité comprenant une première microstructure de diffraction d'ordre nul située sur un substrat (1), une seconde microstructure de diffraction d'ordre nul (2), et une couche de transmission de lumière intermédiaire (4) séparant ces deux microstructures de diffraction. L'espacement (Sn,n+1 ) entre la première microstructure de diffraction (1) et la seconde microstructure de diffraction (2) est réduit de sorte que des interférences optiques sont produites entre ces microstructures de diffraction. Une autre couche de transmission de lumière (3) recouvre la seconde microstructure de diffraction (2).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)