WIPO logo
Mobile | Deutsch | English | Español | 日本語 | 한국어 | Português | Русский | 中文 | العربية |
PATENTSCOPE

Recherche dans les collections de brevets nationales et internationales
World Intellectual Property Organization
Recherche
 
Options de navigation
 
Traduction
 
Options
 
Quoi de neuf
 
Connexion
 
Aide
 
Traduction automatique
1. (WO2006035856) APPAREIL A ELECTRODES D’INSPECTION DE DISPOSITIF A CIRCUIT, SON PROCEDE DE FABRICATION ET APPAREIL D’INSPECTION DE DISPOSITIF A CIRCUIT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/035856    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/017924
Date de publication : 06.04.2006 Date de dépôt international : 29.09.2005
CIB :
G01R 1/06 (2006.01)
Déposants : JSR Corporation [JP/JP]; 6-10, Tsukiji 5-chome, Chuo-ku, Tokyo 1040045 (JP) (Tous Sauf US).
KIMURA, Kiyoshi [JP/JP]; (JP) (US Seulement).
SHIMODA, Sugiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : KIMURA, Kiyoshi; (JP).
SHIMODA, Sugiro; (JP)
Mandataire : OHI, Masahiko; Nissenren-Asahiseimei Building 4, Kanda Surugadai 3-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1010062 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-285678 30.09.2004 JP
Titre (EN) CIRCUIT DEVICE INSPECTING ELECTRODE APPARATUS, METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME AND CIRCUIT DEVICE INSPECTING APPARATUS
(FR) APPAREIL A ELECTRODES D’INSPECTION DE DISPOSITIF A CIRCUIT, SON PROCEDE DE FABRICATION ET APPAREIL D’INSPECTION DE DISPOSITIF A CIRCUIT
(JA) 回路装置検査用電極装置およびその製造方法並びに回路装置の検査装置
Abrégé : front page image
(EN)A circuit device inspecting electrode apparatus is provided, wherein connecting electrodes are formed at a small arrangement pitch, while permitting the electrodes to have sufficient insulation, and further, a contact resistance is small. A method for manufacturing such apparatus is also provided. A circuit device inspecting apparatus is provided, wherein prescribed high precision electrical inspection can be performed for all the electrodes to be inspected in a circuit device having a small arrangement pitch of the electrodes to be inspected or in a circuit device having a large number of electrodes. The electrode apparatus is provided with an insulating board; a plurality of connecting electrodes which are arranged at prescribed positions on a front plane side of the insulating board and have flat rear planes; and a plurality of cables integrally connected at one end plane with the rear plane of the connecting electrode, in a status where one end part of each of the cable is fixed to extend by penetrating the insulating board in a thickness direction. The inspecting apparatus is provided with the circuit device inspecting electrode apparatus.
(FR)L’invention concerne un appareil à électrodes d’inspection de dispositif à circuit dans lequel des électrodes de connexion sont formées à intervalles rapprochées en étant toutefois suffisamment isolées, et présentant une faible résistance de contact. L’invention concerne également un procédé de fabrication d’un tel appareil. L’invention concerne également un appareil d’inspection de dispositif à circuit permettant de réaliser une inspection électrique très précise de toutes les électrodes à inspecter dans un dispositif à circuit dont les électrodes sont formées à intervalles rapprochées, ou dans un dispositif à circuit comportant un grand nombre d’électrodes. L’appareil à électrodes est doté d’une plaquette isolante ; d’une pluralité d’électrodes de connexion occupant des positions déterminées sur un côté de plan avant de la plaquette isolante et comportant des plans arrière plats ; et d’une pluralité de câbles connectés, de façon solidaire au niveau d’un plan d’extrémité, avec le plan arrière des électrodes de connexion, de façon à ce qu’une partie d’extrémité de chacun des câbles s’étende à travers la plaquette isolante dans la direction de l’épaisseur. L’appareil d’inspection est doté de l’appareil à électrodes d’inspection de dispositif à circuit.
(JA) 互いに十分な絶縁性を有しながら接続用電極を小さな配列ピッチで形成することができ、しかも、接触抵抗が小さい回路装置検査用電極装置およびその製造方法並びに被検査電極の配列ピッチが小さいまたは電極数が多い回路装置についても、すべての被検査電極について所期の電気的検査を高い精度で行うことができる回路装置の検査装置を提供する。 本発明の電極装置は、絶縁性基板と、その表面側における所定の位置に配置された、裏面が平坦とされた複数の接続用電極と、各々、一端部が絶縁性基板をその厚み方向に貫通して伸びるよう固定された状態で、一端面が接続用電極の裏面に一体的に連結された複数の電線とを備えてなる。検査装置は、上記回路装置検査用電極装置を備えてなる。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)