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1. (WO2006035800) DISPOSITIF DE CHAUFFAGE DE FILM FIN ET INSTRUMENT ANALYTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/035800    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/017813
Date de publication : 06.04.2006 Date de dépôt international : 28.09.2005
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    24.04.2006    
CIB :
G01N 35/02 (2006.01), G01N 37/00 (2006.01)
Déposants : ARKRAY, INC. [JP/JP]; 57, Nishiaketa-cho, Higashikujo, Minami-ku, Kyoto-shi Kyoto 6018045 (JP) (Tous Sauf US).
MATSUMOTO, Daisuke [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : MATSUMOTO, Daisuke; (JP)
Mandataire : YOSHIDA, Minoru; 2-32-1301, Tamatsukuri-motomachi, Tennoji-ku, Osaka-shi, Osaka 543-0014 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-286629 30.09.2004 JP
Titre (EN) THIN FILM HEATER AND ANALYTICAL INSTRUMENT
(FR) DISPOSITIF DE CHAUFFAGE DE FILM FIN ET INSTRUMENT ANALYTIQUE
(JA) 薄膜ヒータおよび分析用具
Abrégé : front page image
(EN)A thin film heater (2) is provided with a thin film heat element, and first and second thin film electrodes (22, 24) which are electrically connected to the thin film heat element for applying a voltage to the thin film heat element. In the thin film heater (2), at least a part of the thin film heat element has translucency. Preferably, the first thin film electrode (22), the thin film heat element and the second thin film electrode (24) are stacked in this order in the film thickness direction. Furthermore, an analytical instrument (X) provided with the thin film heater (2) is provided.
(FR)L’invention expose un dispositif de chauffage de film fin (2) pourvu d’un élément de chauffage de film fin et de première et deuxième électrodes de film fin (22, 24) reliées électriquement à l’élément de chauffage de film fin pour appliquer une tension à l’élément de chauffage de film fin. Dans le dispositif de chauffage de film fin (2), au moins une partie de l’élément de chauffage de film fin est translucide. De préférence, la première électrode de film fin (22), l’élément de chauffage de film fin et la deuxième électrode de film fin (24) sont empilés dans cet ordre dans la direction d’épaisseur du film. L’invention expose en outre un instrument analytique (X) pourvu du dispositif de chauffage de film fin (2).
(JA) 本発明は、 薄膜発熱抵抗体と、この薄膜発熱抵抗体に電圧を印加するために薄膜発熱抵抗体に導通接続された第1および第2薄膜電極(22,24)と、を備えた薄膜ヒータ(2)に関する。この薄膜ヒータ(2)では、薄膜発熱抵抗体は、少なくとも一部が透光性を有するものとされる。好ましくは、第1薄膜電極(22)、薄膜発熱抵抗体、および第2薄膜電極(24)は、この順序で膜厚方向に積層されている。本発明ではさらに、薄膜ヒータ(2)を備えた分析用具(X)が提供される。                                                                                 
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)