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1. (WO2006035654) ALIMENTATION ET APPAREIL DE TEST
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/035654    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/017413
Date de publication : 06.04.2006 Date de dépôt international : 21.09.2005
CIB :
G01R 31/28 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 1-32-1, Asahi-cho, Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
HASHIMOTO, Yoshihiro [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : HASHIMOTO, Yoshihiro; (JP)
Mandataire : RYUKA, Akihiro; 5F, Shinjuku Square Tower 22-1, Nishi-Shinjuku 6-chome Shinjuku-ku, Tokyo 163-1105 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-288930 30.09.2004 JP
Titre (EN) POWER SUPPLY APPARATUS AND TESTING APPARATUS
(FR) ALIMENTATION ET APPAREIL DE TEST
(JA) 電源装置及び試験装置
Abrégé : front page image
(EN)A power supply apparatus is provided with a connection resistance for supplying an electronic device with a power supply current of the electronic device; a low pass filter for passing an output voltage of a current outputting part; a parallel load part, which consumes a partial current, which is a part of an output current, when a current reduction signal is received, and stops receiving the partial current when a current increase signal is received; an offset adding part for outputting a voltage obtained by adding an offset voltage to the output voltage of the low pass filter; and a difference detecting part, which supplies the parallel load part with the current increase signal while a potential at a connection resistance end part on the device side is smaller than a reference voltage obtained by reducing a reference potential difference from the output voltage of the offset adding part, and supplies the parallel load part with the current reduction signal when the potential at the connection resistance end part on the device side is larger than the reference voltage. The offset adding part adjusts the offset voltage when a first reference potential difference is changed corresponding to the change of the output voltage of the low pass filter.
(FR)L’alimentation comprend une résistance de connexion pour fournir à un dispositif électronique un courant d’alimentation du dispositif électronique ; un filtre passe-bas pour faire passer une tension de sortie d’une partie de fourniture de courant ; une partie de charge parallèle consommant un courant partiel qui est une partie d’un courant de sortie lorsqu’un signal de réduction de courant est reçu et arrête de recevoir le courant partiel lorsqu’un signal d’augmentation de courant est reçu ; une partie d’ajout de décalage pour fournir une tension obtenue en ajoutant une tension de décalage à la tension de sortie du filtre passe bas ; et une partie de détection de différence qui fournit à la partie de charge parallèle le signal d’augmentation de courant alors qu’un potentiel à une partie d’extrémité de résistance de connexion côté dispositif est inférieur à une tension de référence obtenue en diminuant une différence de potentiel de référence de la tension de sortie de la partie d’ajout de décalage et fournit à la partie de charge parallèle le signal de diminution de courant lorsque le potentiel à la partie d’extrémité de résistance de connexion côté dispositif est supérieur à la tension de référence. La partie d’ajout de décalage règle la tension de décalage lorsqu’une première différence de potentiel de référence est changée en fonction du changement de tension de sortie du filtre passe bas.
(JA) 電子デバイスの電源電流を電子デバイスに供給する接続抵抗と、電流出力部の出力電圧を通過させるローパスフィルタと、電流減少信号を受けた場合に出力電流の一部の部分電流を消費し、電流増加信号を受けた場合に部分電流を受け取るのを停止する並列負荷部と、ローパスフィルタの出力電圧にオフセット電圧を加えた電圧を出力するオフセット加算部と、接続抵抗のデバイス側端部の電位が、オフセット加算部の出力電圧から基準電位差を減じた基準電圧よりも小さい間に並列負荷部に電流増加信号を供給し、基準電圧よりも大きくなった場合に並列負荷部に電流減少信号を供給する差分検出部とを備え、オフセット加算部は、ローパスフィルタの出力電圧の変化に応じて第1の基準電位差が変化した場合にオフセット電圧を調整する電源装置を提供する。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)