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1. (WO2006035647) CIRCUIT DE MISE EN FORME DE FORMES D’ONDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE SEMICONDUCTEUR DOTE DE CE CIRCUIT DE MISE EN FORME DE FORMES D’ONDE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/035647    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/017369
Date de publication : 06.04.2006 Date de dépôt international : 21.09.2005
CIB :
G01R 31/3183 (2006.01), G01R 31/26 (2006.01)
Déposants : ADVANTEST CORPORATION [JP/JP]; 32-1, Asahicho 1-chome Nerima-ku, Tokyo 1790071 (JP) (Tous Sauf US).
OCHIAI, Katsumi [JP/JP]; (JP) (US Seulement)
Inventeurs : OCHIAI, Katsumi; (JP)
Mandataire : WATANABE, Kihei; Shibashin Kanda Bldg. 3rd Floor 26, Kanda Suda-cho 1-chome Chiyoda-ku, Tokyo 1010041 (JP)
Données relatives à la priorité :
10/952,678 29.09.2004 US
Titre (EN) WAVEFORM SHAPING CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS HAVING THAT WAVEFORM SHAPING CIRCUIT
(FR) CIRCUIT DE MISE EN FORME DE FORMES D’ONDE ET APPAREIL DE CONTROLE DE SEMICONDUCTEUR DOTE DE CE CIRCUIT DE MISE EN FORME DE FORMES D’ONDE
(JA) 波形整形回路及びこの波形整形回路を備えた半導体試験装置
Abrégé : front page image
(EN)A semiconductor testing apparatus for surely detecting only opened edges that affect a test pattern and hence truly requires an error warning or the like. This semiconductor testing apparatus comprises real time selectors (40) and open detectors (50). The real time selectors (40) receive a plurality of waveform data outputted from a waveform memory (30) and a plurality of timing data outputted from a timing generator (20) and select and output predetermined waveform data and timing data. If an edge of the waveform data is followed by an edge of the same polarity with an interval therebetween that is shorter than a close-in limit time, then the real time selectors (40) open the following edge and output open signals. The open detectors (50) receive the waveform data, timing data and open signals outputted from the real time selectors (40) and output a fail signal if there exists an edge, which has the opposite polarity to the opened edge, within the close-in limit time preceding the foregoing opened edge.
(FR)L’invention concerne un appareil de contrôle de semiconducteur permettant de détecter en toute fiabilité uniquement les flancs ouverts qui affectent un motif de contrôle et justifiant réellement une alarme d’erreur ou une alerte similaire. L’appareil de contrôle de semiconducteur selon l’invention comprend des sélecteurs en temps réel (40) et des détecteurs d’ouverture (50). Les sélecteurs en temps réel (40) reçoivent une pluralité de données de formes d’onde provenant d’une mémoire de formes d’onde (30) et une pluralité de données de synchronisation provenant d’un générateur de synchronisation (20) et sélectionnent et fournissent des données de formes d’onde et des données de synchronisation prédéterminées. Si un flanc des données de formes d’onde est suivi d’un flanc de même polarité qui en est séparé d’un intervalle inférieur à une durée limite de fermeture, les sélecteurs en temps réel (40) ouvrent alors le flanc suivant et fournissent des signaux d’ouverture. Les détecteurs d’ouverture (50) reçoivent les données de formes d’onde, les données de synchronisation et les signaux d’ouverture provenant des sélecteurs en temps réel (40) et fournissent un signal de défaillance s’il existe un flanc présentant une polarité opposée à celle du flanc ouvert dans la durée limite de fermeture précédant le flanc ouvert antérieur.
(JA) オープンエッジがテストパターンに対して影響を与える真にエラー警告等が必要なオープンエッジのみを確実に検出する半導体試験装置である。この半導体試験装置は、波形メモリ30から出力される複数の波形データを入力するとともに、タイミング発生器20から出力される複数のタイミングデータを入力し、所定の波形データ及びタイミングデータを選択して出力し、波形データのエッジに近接制限時間より短い間隔で連続する同極性のエッジがある場合には、連続する後続のエッジをオープンしてオープン信号を出力するリアルタイムセレクタ40と、リアルタイムセレクタ40から出力される波形データ,タイミングデータ及びオープン信号を入力して、オープンされたエッジに先立つ近接制限時間内に、当該オープンエッジと逆極性のエッジがある場合に、フェイル信号を出力するオープンディテクタ50とを備える。
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)