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1. (WO2006035245) RESEAU DE BRAGG BINAIRE APODISE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/035245    N° de la demande internationale :    PCT/GB2005/050166
Date de publication : 06.04.2006 Date de dépôt international : 29.09.2005
CIB :
G02B 6/36 (2006.01)
Déposants : BOOKHAM TECHNOLOGY PLC [GB/GB]; Caswell, Towcester Northamptonshire NN12 8EQ (GB) (Tous Sauf US).
REID, Douglas, John, Charles [GB/GB]; (GB) (US Seulement).
WARD, Andrew, John [GB/GB]; (GB) (US Seulement)
Inventeurs : REID, Douglas, John, Charles; (GB).
WARD, Andrew, John; (GB)
Mandataire : TALBOT-PONSONBY, Daniel; Marks & Clerk 4220 Nash Court Oxford, Business Park South, Oxford Oxfordshire OX4 2RU (GB)
Données relatives à la priorité :
0421563.8 29.09.2004 GB
Titre (EN) APODISED BINARY BRAGG GRATING
(FR) RESEAU DE BRAGG BINAIRE APODISE
Abrégé : front page image
(EN)An apodised Bragg grating comprises a base grating section formed by a base order 5 periodic pattern of marks and spaces. The Bragg grating further comprises one or more apodised grating sections that are formed by a periodic pattern of marks and spaces, each defined by the base order pattern from which at least some of the marks are missing. The determination of which marks are missing may be performed by combining the base order pattern with a higher order modulation envelope function.
(FR)La présente invention concerne un réseau de Bragg apodisé composé d'une partie de réseau de base, constituée de 5 motifs périodiques de base formant des marques et des espaces. Le réseau de Bragg comprend également une ou plusieurs parties de réseau apodisé qui sont constituées d'un motif périodique formant des marques et des espaces, chacun défini par le motif de l'ordre de base à partir duquel au moins certaines des marques sont manquantes. La détermination des marques manquantes peut être réalisée par association du motif de l'ordre de base à une fonction d'enveloppe de modulation d'ordre supérieur.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)