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1. (WO2006031198) RESONANCE AU PLASMON SUPERFICIEL ET DETECTEUR DE MICROEQUILIBRE A CRISTAL DE QUARTZ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/031198    N° de la demande internationale :    PCT/SG2004/000296
Date de publication : 23.03.2006 Date de dépôt international : 15.09.2004
Demande présentée en vertu du Chapitre 2 :    12.12.2005    
CIB :
G01N 21/55 (2006.01), G01N 5/00 (2006.01)
Déposants : AGENCY FOR SCIENCE, TECHNOLOGY AND RESEARCH [SG/SG]; 20 Biopolis Way, #07-01, Centros, Singapore 138668 (SG) (Tous Sauf US).
MAX-PLANCK-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E. V. [DE/DE]; Hofgartenstr. 8, 80539 München (DE) (Tous Sauf US).
WANG, Guangyu [CN/SG]; (SG) (US Seulement).
SU, Xiaodi [CN/SG]; (SG) (US Seulement).
KNOLL, Wolfgang [DE/SG]; (SG) (US Seulement).
WU, Ying-Ju [CN/SG]; (SG) (US Seulement)
Inventeurs : WANG, Guangyu; (SG).
SU, Xiaodi; (SG).
KNOLL, Wolfgang; (SG).
WU, Ying-Ju; (SG)
Mandataire : ELLA CHEONG SPRUSON & FERGUSON (SINGAPORE) PTE LTD; P.O. Box 1531, Robinson Road Post Office, Singapore 903031 (SG)
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SURFACE PLASMON RESONANCE AND QUARTZ CRYSTAL MICROBALANCE SENSOR
(FR) RESONANCE AU PLASMON SUPERFICIEL ET DETECTEUR DE MICROEQUILIBRE A CRISTAL DE QUARTZ
Abrégé : front page image
(EN)A sensor chip assembly for use in a sensor capable of Surface Plasmon Resonance (SPR) and gravimetric sensing. The assembly comprising a transparent piezoelectric substrate (1) having a first surface and a second surface opposite to the first surface. The assembly also comprising first and second thin film metal electrodes (2,3) respectively provided on the first and second surfaces of the substrate (1). The second thin film metal electrode (3) being position on the second surface of the substrate (1) such that a light beam is capable of being transmitted through the second surface of the substrate and reflected from the first thin film metal electrode. The assembly also comprising an attenuated total reflection (ATR) coupler (11) disposed adjacent to the second thin film metal electrode (3).
(FR)L’invention porte sur un ensemble à puces de détection pour utilisation dans un détecteur capable de résonance au plasmon superficiel (SPR) et détection gravimétrique. L’ensemble comprend un substrat piézoélectrique transparent (1) possédant une première surface et une seconde surface opposée à la première surface. L’ensemble comprend également une première électrode de métal à film mince et une seconde électrode de métal à film mince (2,3) disposées respectivement sur la première surface et sur la seconde surface du substrat (1). La seconde électrode de métal à film mince (3) est positionnée sur la seconde surface du substrat (1) de façon à pouvoir transmettre un faisceau lumineux à travers la seconde surface du substrat et le réfléchir de la première électrode de métal à film mince. L’ensemble comprend également un coupleur à réflexion totale atténuée (ATR) (11) disposé adjacent à la seconde électrode de métal à film mince (3).
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IT, LU, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)