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1. (WO2006027919) APPAREIL ET PROCEDE DE NETTOYAGE DE PIECE D'ARETE DE SUBSTRAT
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international   

N° de publication :    WO/2006/027919    N° de la demande internationale :    PCT/JP2005/014479
Date de publication : 16.03.2006 Date de dépôt international : 01.08.2005
CIB :
B08B 1/00 (2006.01), G02F 1/1333 (2006.01)
Déposants : MATSUSHITA ELECTRIC INDUSTRIAL CO., LTD. [JP/JP]; 1006, Oaza Kadoma, Kadoma-shi, Osaka 571-8501 (JP) (Tous Sauf US).
KATANO, Ryouichirou; (US Seulement).
TSUJI, Shinjiro; (US Seulement)
Inventeurs : KATANO, Ryouichirou; .
TSUJI, Shinjiro;
Mandataire : NII, Hiromori; c/o NII Patent Firm, 6F, Tanaka Ito Pia Shin-Osaka Bldg., 3-10, Nishi Nakajima 5-chome, Yodogawa-ku, Osaka-city, Osaka 5320011 (JP)
Données relatives à la priorité :
2004-257553 03.09.2004 JP
Titre (EN) SUBSTRATE EDGE PART CLEANING APPARATUS AND SUBSTRATE EDGE PART CLEANING METHOD
(FR) APPAREIL ET PROCEDE DE NETTOYAGE DE PIECE D'ARETE DE SUBSTRAT
Abrégé : front page image
(EN)A substrate edge part cleaning apparatus that judges cleaning degree of each glass substrate when cleaning the edge part of the glass substrate used for liquid crystal display. The substrate edge part cleaning apparatus 100 has a cleaning head which cleans by wiping an edge part of a substrate for display A while moving rectilinearly, the apparatus including a camera 117 which captures images of the proximity of an edge of a color filter which is placed on the substrate, by moving together with the cleaning head. The camera 117 obtains surface status information of the substrate part which has been cleaned, and the substrate edge part cleaning apparatus 100 further includes a cleaning degree judgment unit 306 which judges cleaning degree based on the surface status information.
(FR)La présente invention concerne un appareil de nettoyage de pièce d'arête de substrat qui évalue le degré de nettoyage de chaque substrat en verre lors du nettoyage de la pièce d'arête du substrat en verre utilisé pour un écran à cristaux liquides. Cet appareil de nettoyage de pièce d'arête de substrat (100) présente une tête de nettoyage qui nettoie en essuyant une pièce d'arête d'un substrat d'écran (A) selon un déplacement rectiligne. Ledit appareil comprend une caméra (117) qui capture des images de la proximité d'une arête d'un filtre coloré placé sur le substrat, en se déplaçant conjointement à la tête de nettoyage. La caméra (117) obtient des informations d'état de surface de la pièce du substrat qui a été nettoyée. L'appareil de nettoyage de pièce d'arête de substrat (100) comprend également une unité d'évaluation de degré de nettoyage (306) qui évalue le degré de nettoyage sur la base desdites informations d'état de surface.
États désignés : AE, AG, AL, AM, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DK, DM, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, HR, HU, ID, IL, IN, IS, JP, KE, KG, KM, KP, KR, KZ, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, MA, MD, MG, MK, MN, MW, MX, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PG, PH, PL, PT, RO, RU, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, SY, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, YU, ZA, ZM, ZW.
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LS, MW, MZ, NA, SD, SL, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, MD, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, NL, PL, PT, RO, SE, SI, SK, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, ML, MR, NE, SN, TD, TG).
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)